[发明专利]一种用于微全分析系统芯片集成化进样系统及进样方法在审
| 申请号： | 202010499718.5 | 申请日： | 2020-06-04 |
| 公开（公告）号： | CN111679088A | 公开（公告）日： | 2020-09-18 |
| 发明（设计）人： | 张贺;杨爽;揣荣岩;李新;张英杰 | 申请（专利权）人： | 沈阳工业大学 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00;G01N35/10;B01L3/00 |
| 代理公司： | 沈阳智龙专利事务所(普通合伙) 21115 | 代理人： | 宋铁军 |
| 地址： | 110870 辽宁省沈阳*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于微全分析系统芯片的集成化进样系统，包括进样控制模块、机械支撑模块和进样连接模块，进样连接模块和进样控制模块通过机械支撑模块支撑，所述进样连接模块包括有微全分析系统芯片和进液装置，进液装置的出液口与微全分析系统预留的进液口连接，所述进样控制模块包括有能够控制进液装置进液的动力装置。本系统可进一步提高芯片的实时性检测能力，有利于芯片应用领域的拓展和商品化进程。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 分析 系统 芯片 集成化 方法 | ||
【主权项】：
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