[发明专利]DRAM的操作方法有效

专利信息
申请号: 202010445738.4 申请日: 2020-05-22
公开(公告)号: CN111640461B 公开(公告)日: 2021-12-03
发明(设计)人: 陈志远;陈辉煌;吴巍 申请(专利权)人: 福建省晋华集成电路有限公司
主分类号: G11C11/409 分类号: G11C11/409;G11C11/4074;G11C11/408
代理公司: 上海思捷知识产权代理有限公司 31295 代理人: 王宏婧
地址: 362200 福建省泉州*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明提供了一种DRAM的操作方法,被操作的DRAM的每个所述存储阵列片包括多条字线和多个按阵列排布的存储单元,每个所述存储单元具有相互独立的第一栅极和第二栅极,在读和/或写时,向同一个所述存储阵列片中所有的第一栅极均施加第一电压,并向同一个所述存储阵列片中的被选中的第二栅极施加第二电压,向同一个所述存储阵列片中的未被选中的第二栅极施加第三电压,且第一电压、第二电压和第三电压均不相同,由此可以减少栅极引发漏极漏电流以及衬底漏电流,继而改善栅极引发漏极漏电流现象影响读写操作效能的问题,进而提高DRAM的读写操作效能。
搜索关键词: dram 操作方法
【主权项】:
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