[发明专利]二极管高压硅堆的清洗封装方法在审

专利信息
申请号: 202010434697.9 申请日: 2020-05-21
公开(公告)号: CN111739798A 公开(公告)日: 2020-10-02
发明(设计)人: 王志敏;黄丽凤;张英宏 申请(专利权)人: 如皋市大昌电子有限公司
主分类号: H01L21/329 分类号: H01L21/329;H01L21/02
代理公司: 南京天翼专利代理有限责任公司 32112 代理人: 崔立青;王玉梅
地址: 226578 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了二极管高压硅堆的清洗封装方法,该二极管高压硅堆的清洗封装方法包括以下几个步骤:选取若干个的硅高频二极管的管心,分向二极管管心预焊盘装填,把正极朝上的分向二极管管心放入预焊用石墨焊接板,使其在预焊用石墨焊接板孔内全部负极朝上,焊片预焊盘装填,负极朝上的整流二极管管心上面再装填一层焊片;选用N‑型单晶硅片,采用纯水清洗,硅片清洗后甩干,该二极管高压硅堆的清洗封装方法,该高压硅堆在加工时,分别采用不同的工艺流程对其零件进行处理,能够使得高压硅堆的高频耐压得到显著提升,且该高压硅堆体积小、重量轻、机械强度高、使用简便和无辐射,使得工作电压达到10‑12万伏之间,具有优异的性能。
搜索关键词: 二极管 高压 清洗 封装 方法
【主权项】:
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