[发明专利]ADC芯片测试方法有效
| 申请号： | 202010414880.2 | 申请日： | 2020-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN111693857B | 公开（公告）日： | 2022-09-23 |
| 发明（设计）人： | 刘彬;赵希军;李毅;梁善儒;李俊锋 | 申请（专利权）人： | 珠海南方集成电路设计服务中心 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317;G01R31/3183 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 郑晨鸣 |
| 地址： | 519085 广东省珠海市唐*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种ADC芯片测试方法，包括步骤：生成二进制的原始数字码；将原始数字码转换为第一模拟信号；在待测芯片的输出端和输入端之间构建反馈环路，反馈环路将原始数字码和由待测芯片输出的待校验数字码相比较后输出比较信号，并根据比较信号进行积分变换后得到第二模拟信号，且将第一模拟信号和第二模拟信号进行叠加后拟合出第三模拟信号，第三模拟信号用作待测芯片的测试输入信号；对第三模拟信号进行采样，并检测采样数据是否在允许的误差范围内。本发明通过在待测芯片的输出端和输入端之间构建反馈环路，从而降低对模拟信号源的精度和稳定性要求，在设计ADC测试电路时可以采用精度和稳定性较低的元器件，从而降低电路成本和测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | adc 芯片 测试 方法 | ||
【主权项】：
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