[发明专利]一种抗硫化芯片电阻器及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202010193567.0 申请日: 2020-03-18
公开(公告)号: CN111341509A 公开(公告)日: 2020-06-26
发明(设计)人: 张琦;蔡东谋;简高柏 申请(专利权)人: 国巨电子(中国)有限公司
主分类号: H01C7/00 分类号: H01C7/00;H01C1/024;H01C1/032;H01C1/034;H01C17/065;H01C17/28
代理公司: 苏州简理知识产权代理有限公司 32371 代理人: 杨瑞玲
地址: 215011 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种抗硫化芯片电阻器及其制造方法,所述抗硫化芯片电阻器包括基板、两个正面电极、两个背面电极、电阻层、第一保护层、第二保护层、两个辅助电极层、两个真空镀膜层及两个电镀层。电阻层设置在所述基板的正上面,第一保护层在电阻层上面;第二保护层在所述第一保护层的上方;两个辅助电极层分别设置在两个所述正面电极上,两个所述辅助电极层分别与同侧的第二保护层连接;每一真空镀膜层位于所述基板的侧面;两个电镀层分别设置在所述基板的两个侧面,及靠近侧面的正背面。该结构牢固密封性强,可以有效地避免在冷热冲击下,接口缝隙的形成;有效地抵挡高温,高湿及油煮等严苛条件下的硫化侵蚀,耐候性更强。
搜索关键词: 一种 硫化 芯片 电阻器 及其 制造 方法
【主权项】:
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