[发明专利]一种半导体测试设备有效
| 申请号： | 202010143089.2 | 申请日： | 2020-03-04 |
| 公开（公告）号： | CN111308305B | 公开（公告）日： | 2022-02-18 |
| 发明（设计）人： | 曹锐;邓标华;裴敬;杜建 | 申请（专利权）人： | 武汉精鸿电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人： | 李佑宏 |
| 地址： | 430070 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及半导体测试领域，公开了一种半导体测试设备，其特征在于，包括设置在机架上的电控模块、测试模块、气源回路、散热模块；所述测试模块包括BIB测试板和SITE供电及信号板，所述BIB测试板和所述SITE供电及信号板分别与FT中间连接板无线材硬对接连接；所述BIB测试板正面设置有待测器件，所述BIB测试板背面连接有测试核心板，所述气源回路正对所述测试核心板设置，所述散热模块正对所述BIB测试板设置，用于对所述BIB测试板进行散热。本发明提供了一套完整的针对高速DUT的测试设备，实现了高速总线测试，还解决了测试过程中器件散热的难题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 测试 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉精鸿电子技术有限公司，未经武汉精鸿电子技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010143089.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
