[发明专利]一种半导体激光器件测试装置在审
| 申请号： | 201911275409.3 | 申请日： | 2019-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN111044872A | 公开（公告）日： | 2020-04-21 |
| 发明（设计）人： | 潘华东;郭学文;王俊;谭少阳;周立;俞浩 | 申请（专利权）人： | 苏州长光华芯光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人： | 寇海侠 |
| 地址： | 215163 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种半导体激光器件测试装置，包括：温控底座，用于进行温度调节，在温控底座的一侧设置有用于输入输出冷却水的出水口及进水口，另一侧设置有用于放置加热模块的孔洞；限位板，限位板固定在温控底座上，设置有至少一个卡槽，用于放置被测半导体激光器；探针固定结构，设置于温控底座上，探针固定结构上设置有用于容置探针的空间；至少两对探针，设置于探针固定结构上，其中一对探针与被测半导体激光器的正极接触，另一对探针与被测半导体激光器的负极接触，至少两对探针通过探针板与电源连接。通过温控底座与温控器来保证老化维持在所需温度，通过探针固定结构和限位板固定探针与被测半导体激光器，实现多个半导体激光器的老化。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体激光器 测试 装置 | ||
【主权项】：
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