[发明专利]用于化学机械研磨系统的平台在审
申请号: | 201911192803.0 | 申请日: | 2019-11-28 |
公开(公告)号: | CN111230722A | 公开(公告)日: | 2020-06-05 |
发明(设计)人: | 赖宗龙;陈政炳;陈世忠;彭升泰;洪荣隆 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | B24B37/00 | 分类号: | B24B37/00;B24B37/34 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 任芸芸;郑特强 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本公开实施例提供一种用于化学机械研磨系统的平台。上述平台包括在平台之中的一或多个凹部,以安置用于研磨/平坦化工艺的各种构件。平台包括第一凹部以及第二凹部。第一凹部位于第二凹部之下。终点检测器放置在第一凹部中,且检测器盖可被放置在第二凹部中。密封装置被提供在终点检测器与检测器盖之间的空间,以防止任何外部或外来的材料接触终点检测器。拴件被用以将检测器盖拴至平台,也提供附加的防护以防止外来的材料接触被容纳在凹部的构件。 | ||
搜索关键词: | 用于 化学 机械 研磨 系统 平台 | ||
【主权项】:
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