[发明专利]反应腔室及半导体设备有效
申请号: | 201910356395.1 | 申请日: | 2019-04-29 |
公开(公告)号: | CN111863579B | 公开(公告)日: | 2023-09-08 |
发明(设计)人: | 贺斌 | 申请(专利权)人: | 北京北方华创微电子装备有限公司 |
主分类号: | H01J37/32 | 分类号: | H01J37/32 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 彭瑞欣;张天舒 |
地址: | 100176 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种反应腔室及半导体设备,包括介质筒和环绕在介质筒周围的线圈,在线圈内设置有冷却通道,冷却通道用于通入冷却介质,通过冷却介质来对介质筒进行冷却。本发明提供的反应腔室及半导体设备能够对介质筒进行冷却,从而避免衬底糊胶的情况发生,提高反应腔室的工作可靠性。 | ||
搜索关键词: | 反应 半导体设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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