[发明专利]FPGA配置存储器测试方法

摘要

FPGA配置存储器测试方法，涉及集成电路技术，本发明包括下述功能测试：1)读ID测试：仅施加JTAG_SIR_IDLE和JTAG_SDR_IDLE两个控制指令，控制指令参数设置为读ID指令；2)擦除测试：仅施加JTAG_SIR_IDLE、JTAG_SIR_IRPAUSE、JTAG_SDR_IDLE、JTAG_SDR_IRPAUSE这4个控制指令；3)验空测试：仅施加JTAG_SIR_IDLE和JTAG_SDR_IDLE两个指令；4)编程输出配置测试：仅施加JTAG_SIR_IDLE和JTAG_SDR_IDLE两个指令；5)输出校验测试：仅施加JTAG_SIR_IDLE和JTAG_SDR_IDLE两个指令。本发明可使整体的FPGA配置存储器的功能测试所需时间大大缩短。

主权项

1.FPGA配置存储器测试方法，其特征在于，包括下述功能测试：1)读ID测试：仅施加JTAG_SIR_IDLE和JTAG_SDR_IDLE两个控制指令，控制指令参数设置为读ID指令，然后读取FPGA输出的ID数据，判断输出的ID数据是否满足要求；2)擦除测试：仅施加JTAG_SIR_IDLE、JTAG_SIR_IRPAUSE、JTAG_SDR_IDLE、JTAG_SDR_IRPAUSE这4个控制指令，控制指令参数设置为擦除指令，然后判断FPGA的状态寄存器是否在指定的时间范围内输出正确状态；3)验空测试：仅施加JTAG_SIR_IDLE和JTAG_SDR_IDLE两个指令，控制指令参数设置为验空指令，然后判断FPGA的状态寄存器是否在指定的时间范围内输出正确状态；4)编程输出配置测试：仅施加JTAG_SIR_IDLE和JTAG_SDR_IDLE两个指令，控制指令参数设置为编程指令，并向FPGA输入编程地址和编程数据模板，然后判断FPGA的状态寄存器是否在指定的时间范围内输出正确状态；5)输出校验测试：仅施加JTAG_SIR_IDLE和JTAG_SDR_IDLE两个指令，控制指令参数设置为校验指令，并向FPGA输入编程地址和编程数据模板，判断FPGA的状态寄存器是否在指定的时间范围内输出正确状态且读取的数据是否正确。