[发明专利]下电极结构及反应腔室有效
申请号: | 201811539932.8 | 申请日: | 2018-12-17 |
公开(公告)号: | CN109767968B | 公开(公告)日: | 2021-06-08 |
发明(设计)人: | 崔咏琴 | 申请(专利权)人: | 北京北方华创微电子装备有限公司 |
主分类号: | H01J37/32 | 分类号: | H01J37/32 |
代理公司: | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人: | 蔡纯;高青 |
地址: | 100176 北京市大*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请公开了一种下电极结构,包括:底座;绝缘环,所述绝缘环放置于所述底座之上,且二者之间存在间隙;隔热环,所述隔热环完全嵌入在所述底座内;保护环,所述保护环位于所述底座与所述绝缘环之间的间隙内,且环绕在所述隔热环的外侧。保护环将隔热环与反应腔室隔断,从而能保护隔热环,使隔热环不会因接触到外部环境中的活性粒子而被刻蚀,提高了隔热环的使用寿命。 | ||
搜索关键词: | 电极 结构 反应 | ||
【主权项】:
1.一种下电极结构,其特征在于,包括:底座;绝缘环,所述绝缘环放置于所述底座之上,且二者之间存在间隙;隔热环,所述隔热环完全嵌入在所述底座内;保护环,所述保护环位于所述底座与所述绝缘环之间的间隙内,且环绕在所述隔热环的外侧,用于防止所述隔热环被刻蚀。
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