[发明专利]图案描绘方法、光掩模及其制造方法、显示装置的制造方法有效
申请号: | 201811530914.3 | 申请日: | 2018-12-14 |
公开(公告)号: | CN110007555B | 公开(公告)日: | 2022-07-08 |
发明(设计)人: | 金谷健一 | 申请(专利权)人: | HOYA株式会社 |
主分类号: | G03F1/76 | 分类号: | G03F1/76 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 黄纶伟;李辉 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及图案描绘方法、光掩模的制造方法、光掩模、以及显示装置的制造方法。降低图案CD的变动,得到稳定的成品率。图案描绘方法包括:校正工序,依据预先求出的校正值来校正设计图案数据,从而得到校正图案数据,该校正值以使通过对光掩模进行曝光而在被转印体上得到的孔/点图案的CD与目标值相等的方式求出;以及描绘工序,应用校正图案数据,利用描绘装置来进行描绘。描绘装置在与光掩模基板面平行的面内,在X方向和与X方向垂直的Y方向上通过CD控制精度不同的驱动方式被驱动。在校正工序中,通过在设计图案数据中对孔/点图案的CD进行如下校正而得到校正图案数据,在该校正中,使在X方向和Y方向中的CD控制精度较高的方向上的CD变更。 | ||
搜索关键词: | 图案 描绘 方法 光掩模 及其 制造 显示装置 | ||
【主权项】:
1.一种图案描绘方法,其用于根据规定的设计图案数据而在光掩模基板上进行描绘,来形成具有包括孔/点图案的转印用图案的光掩模,该图案描绘方法的特征在于,包括:校正工序,依据预先求出的校正值来校正所述设计图案数据,从而得到校正图案数据,使得通过对所述光掩模进行曝光而在被转印体上得到的孔/点图案的CD与目标值相等;以及描绘工序,应用所述校正图案数据,利用描绘装置进行描绘,所述描绘装置在与所述光掩模基板面平行的面内,通过CD控制精度在X方向和与所述X方向垂直的Y方向上不同的驱动方式被驱动,在所述校正工序中,通过在设计图案数据中对所述孔/点图案的CD进行如下校正,来得到校正图案数据,在该校正中,使X方向和Y方向中的CD控制精度较高的方向上的CD变更。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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