[发明专利]一种高速数模转换电路单粒子瞬态效应评估方法及系统在审
| 申请号： | 201811368434.1 | 申请日： | 2018-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN109581205A | 公开（公告）日： | 2019-04-05 |
| 发明（设计）人： | 彭惠薪;郑宏超;李哲;董方磊;李建成;简贵胄;毕潇;赵旭;于春青;杜守刚;穆里隆;武永俊;张栩燊;徐雷霈;李月 | 申请（专利权）人： | 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所 |
| 主分类号： | G01R31/3167 | 分类号： | G01R31/3167 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 庞静 |
| 地址： | 100076 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种高速数模转换电路单粒子瞬态效应评估方法及系统，(1)为待测高速数模电路配置码型，待测高速数模电路按照上述码型输出模拟信号；(2)采集上述模拟信号并转换成数字信号，通过上述数字信号判别测高速数模电路处于正常工作状态时，转步骤(3)；否则，从步骤(1)重新执行，直至工作状态正常；(3)对待测高速数模电路进行重离子试验，重新采集待测高速数模电路输出的模拟信号并进行模数转换，将转换得到的数字信号与步骤(1)中的码型进行比对，当二者的差值超出设定的阈值，则认为待测高速数模电路发生了单粒子瞬态效应；(4)在重离子试验期间，对待测高速数模电路的单粒子瞬态效应进行错误数统计；(5)计算待测高速数模电路在该重离子下的错误界面σT，利用σT完成电路单粒子瞬态效应的评估。 | ||
| 搜索关键词： | 数模电路 瞬态效应 单粒子 数字信号 重离子 码型 高速数模转换电路 模拟信号 评估 工作状态正常 输出模拟信号 正常工作状态 采集 错误界面 模数转换 试验期间 重新执行 转换 比对 电路 输出 试验 配置 统计 | ||
【主权项】：
1.一种高速数模转换电路单粒子瞬态效应评估方法，其特征在于包括如下步骤：(1)为待测高速数模电路配置码型，待测高速数模电路按照上述码型输出模拟信号；(2)采集上述模拟信号并转换成数字信号，通过上述数字信号判别测高速数模电路处于正常工作状态时，转步骤(3)；否则，从步骤(1)重新执行，直至工作状态正常；(3)对待测高速数模电路进行重离子试验，重新采集待测高速数模电路输出的模拟信号并进行模数转换，将转换得到的数字信号与步骤(1)中的码型进行比对，当二者的差值超出设定的阈值，则认为待测高速数模电路发生了单粒子瞬态效应；(4)在重离子试验期间，对待测高速数模电路的单粒子瞬态效应进行错误数统计；(5)根据步骤(4)的结果，计算待测高速数模电路在该重离子下的错误界面σT，利用σT完成电路单粒子瞬态效应的评估，即σT越大，判定该待测高速数模电路对单粒子瞬态的敏感性越强。
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- 本发明提供了从命令行测试集成电路的系统、方法和计算机程序产品。提供了用于测试电路表示的系统、方法和计算机程序产品。在命令行接口处接收命令行输入。命令行输入被转译成一个或多个测试条件。此外，生成配置为对电路表示进行仿真并验证一个或多个测试条件的测试环境。
- 一种变换放大器自动化测试电路-201320613055.0
- 邱云峰;袁文;张文辉;雷芸 - 贵州航天计量测试技术研究所
- 2013-09-30 - 2014-03-12 - G01R31/3167
- 实用新型公开了一种变换放大器自动化测试电路，它包括变换放大器（2），该变换放大器（2）分别与移相调节电路（4）、调零电路（5）、测量电路（6）、半波微调电路（8）和输入信号调节电路（9）导线连接；本实用新型具有方法简单、通用性强、操作简单等特点，不仅降低了变换放大器测试的成本，提高了测试效率，减少了测试误差，解决了变换放大器自动化测试难题，解决了常规测试各种变换放大器没有通用的自动化测试手段，仅通过测量仪表手动测试变换放大器，导致的测试效率低，测试精度低，还极易损坏变换放大器等问题。
- 一种基于边界扫描的数模混合电路机内测试装置-201310511488.X
- 刘萌萌;任占勇;曾照洋;李璠;蒋觉义 - 中国航空综合技术研究所
- 2013-10-25 - 2014-02-05 - G01R31/3167
- 本发明属于测试性技术，涉及一种基于边界扫描的数模混合电路机内测试（BIT）装置。该装置由扫描链路模块、扫描测试执行所需的边界扫描控制器和主控制器、加载有测试向量的测试向量存储器、以及被测数模混合电路组成，该装置能针对数模混合复杂电路的特点，实现基于边界扫描的机内测试，从而可以有效解决数模混合电路的结构与交联复杂性带来的测试难题，为其提供通用、可靠的测试性设计；并且可方便电路的故障检测与定位，提高测试效率和可信度，降低研发及维护费用，提高作战效能和整体经济效益。
- 用于高精度ADC测试中低分辨率信号源的选取方法-201310278150.4
- 黄成;李佑辉 - 东南大学
- 2013-07-04 - 2014-01-22 - G01R31/3167
- 本发明公开了一种用于高精度ADC测试中低分辨率信号源的选取方法，其通过对于同一分辨率的信号源，分析增加或减少采样点数对测试结果精确度的影响，并在此基础上建立采样点数同测试结果之间的关系模型，以及信号源的分辨率同测试结果精确度之间的关系。基于得到的关系模型，可以确定在给定测试对象和测试目的，进而实现在对高精度ADC进行快速测试、精确测试以及快速精确的低成本测试等目的时最佳信号源的选择，在保证测试结果的同时降低测试成本。
- 专利分类
