[发明专利]一种光学薄膜缺陷激光损伤阈值的测试系统及测试方法在审

专利信息
申请号: 201811040724.3 申请日: 2018-09-07
公开(公告)号: CN108982072A 公开(公告)日: 2018-12-11
发明(设计)人: 单翀;赵元安;高妍琦;赵晓晖;崔勇;饶大幸;刘佳妮;胡国行;马伟新 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 上海智力专利商标事务所(普通合伙) 31105 代理人: 周涛
地址: 201899 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种光学薄膜缺陷激光损伤阈值的测试系统,该系统包括按光路依次放置的激光器、衰减器、分束器、能量计、光束质量分析仪、聚焦透镜、CCD相机、金属膜、光学薄膜、移动平台、扫描电子显微镜和电脑,激光器发出的激光束,经衰减器后到达光束分束器,光束分束器透射方向的激光束经过聚焦透镜到达金属膜,CCD相机记录激光辐照在金属膜表面的光斑位置和辐照在光学薄膜表面时的激光损伤点坐标,扫描电子显微镜记录激光辐照在光学薄膜中缺陷损伤点纵向深度位置,并完成对缺陷损伤点横向能量密度细分与纵向电场归一化处理相结合分析。本发明解决了以峰值能量密度作为缺陷损伤密度所带来的问题,从而提高测试精度。
搜索关键词: 光学薄膜 辐照 激光损伤 扫描电子显微镜 光束分束器 测试系统 记录激光 聚焦透镜 激光器 激光束 金属膜 衰减器 损伤点 光束质量分析仪 光学薄膜表面 归一化处理 金属膜表面 测试 峰值能量 光斑位置 横向能量 结合分析 深度位置 透射方向 移动平台 纵向电场 点坐标 分束器 能量计 光路 损伤 电脑
【主权项】:
1.一种光学薄膜缺陷激光损伤阈值测试系统,其特征在于,该系统包括按光路依次放置的激光器(1)、衰减器(2)、光束分束器(3)、能量计(4)、光束质量分析仪(5)、聚焦透镜(6)、CCD相机(7)、金属膜(8)、光学薄膜(9)、移动平台(10)、扫描电子显微镜(11)和电脑(12),所述激光器(1)发出的激光束,经衰减器(2)后到达光束分束器(3),光束分束器(3)反射方向分别到达能量计(4)和光束质量分析仪(5),光束分束器(3)透射方向经过聚焦透镜(6)到达金属膜(8),所述CCD相机(7)记录激光辐照在金属膜(8)表面的光斑位置和辐照在光学薄膜(9)表面时的激光损伤点坐标,所述扫描电子显微镜(11)记录激光辐照在光学薄膜(9)中缺陷损伤点纵向深度位置,所述的电脑(12)经运动控制卡(13)控制电机驱动器(14)驱动步进电机(15)带动所述的移动平台(10)水平匀速运动;所述的电脑(12)经数据输出卡(16)控制调Q信号输出从而控制所述的激光器(1)激光输出;所述的能量计(4)的输出端连接至电脑(12)的第一输入端,所述的光束质量分析仪(5)的输出端连接至电脑(12)的第二输入端,所述的CCD相机(7)的输出端连接至电脑(12)的第三输入端,所述的扫描电子显微镜(11)的输出端连接至电脑(12)的第四输入端。
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