[发明专利]光学薄膜片的制造方法无效

专利信息
申请号: 03104957.5 申请日: 2003-02-28
公开(公告)号: CN1442708A 公开(公告)日: 2003-09-17
发明(设计)人: 山口隆行;那须拓郎;及川伸 申请(专利权)人: 住友化学工业株式会社
主分类号: G02B5/20 分类号: G02B5/20;G02F1/1335
代理公司: 北京集佳专利商标事务所 代理人: 王学强
地址: 暂无信息 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种光学薄膜片制造方法,以及该方法中使用的光学薄膜中间体的自动切出装置。本光学薄膜片的制造方法包括以下作业:从长光学薄膜中切出光学薄膜中间体的切割作业、从切出的光学薄膜中间体切出光学薄膜片的切片作业、检查切出的光学薄膜片的检查作业和检查结束后将光学薄膜片按一定片数包装的包装作业。在切割作业中,光学薄膜片中间体的切出与切片作业是自动连续进行的,在检查作业中,依次检查由切片作业取得的光学薄膜片,并利用片数检测手段自动检测已检查过的光学薄膜片的数目,当检查过的光学薄膜片的数目达到一定片数时,即将这些一定片数的光学薄膜片送往包装作业。
搜索关键词: 光学薄膜 制造 方法
【主权项】:
1、光学薄膜片的制造方法,包括以下作业:从长光学薄膜中切出光学薄膜中间体的切割作业、从切出的光学薄膜中间体切出光学薄膜片的切片作业、检查切出的光学薄膜片的检查作业和检查结束后将光学薄膜片按一定片数包装的包装作业,其特征在于:在切割作业中,光学薄膜片中间体的切出与切片作业是自动连续进行的,在检查作业中,依次检查由切片作业取得的光学薄膜片,并利用片数检测手段自动检测已检查过的光学薄膜片的数目,当检查过的光学薄膜片的数目达到一定片数时,即将这些一定片数的光学薄膜片送往包装作业。
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