[实用新型]硅基单片集成激光器有效

专利信息
申请号: 201720132168.7 申请日: 2017-02-14
公开(公告)号: CN206931836U 公开(公告)日: 2018-01-26
发明(设计)人: 仇超;龚谦;武爱民;高腾;盛振;甘甫烷;赵颖璇;李军 申请(专利权)人: 上海新微科技服务有限公司;中国科学院上海微系统与信息技术研究所;中科院南通光电工程中心
主分类号: H01S5/323 分类号: H01S5/323;H01S5/32
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙)31219 代理人: 罗泳文
地址: 201800 上海市嘉定区*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型提供一种硅基单片集成激光器,包括1)于SOI衬底表面制作图形掩膜;2)刻蚀顶层硅及埋氧化硅层,形成直至衬底硅的限向结构;3)于限向结构内生长Ge外延层;4)在Ge外延层上外延生长III‑V族材料,控制Ge厚度和III‑V族材料的厚度,使得III‑V族材料的发光层与SOI衬底的顶层硅层在高度方向上精确对准。本实用新型利用SOI材料的底层硅作为衬底,通过Ge作为过渡层,实现III‑V族材料的硅上直接外延工艺,设计Ge的厚度和III‑V族材料的厚度,实现III‑V族材料的发光层与顶层硅的对准,使得III‑V族激光器和硅光子器件在高度方向上精确对准;通过光刻、刻蚀等工艺实现III‑V族激光器与其他硅光子器件在水平方向上高精度对准。另外,本实用新型可提高激光器的热扩散性能。
搜索关键词: 单片 集成 激光器
【主权项】:
一种硅基单片集成激光器,其特征在于,包括:SOI衬底,包括衬底硅、埋氧化硅层以及顶层硅,所述埋氧化硅层以及顶层硅形成有图形化的限向结构;Ge外延层,形成于限向结构内的衬底硅表面;III‑V族材料,形成于所述Ge外延层表面,所述III‑V族材料的发光层与SOI衬底的顶层硅层在高度方向上精确对准。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海新微科技服务有限公司;中国科学院上海微系统与信息技术研究所;中科院南通光电工程中心,未经上海新微科技服务有限公司;中国科学院上海微系统与信息技术研究所;中科院南通光电工程中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201720132168.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top