[实用新型]集成肖特基二极管的SiCJFET器件有效

专利信息
申请号: 201720062943.6 申请日: 2017-01-19
公开(公告)号: CN206672934U 公开(公告)日: 2017-11-24
发明(设计)人: 倪炜江 申请(专利权)人: 北京世纪金光半导体有限公司
主分类号: H01L27/07 分类号: H01L27/07;H01L29/10;H01L29/78;H01L29/808;H01L21/8232
代理公司: 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司11003 代理人: 张宇锋
地址: 100176 北京市大*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开了集成肖特基二极管的SiC JFET(结型场效应晶体管)器件,其有源区的原胞结构从下至上依次为漏极、SiC衬底、buffer层、n‑漂移层、左右对称设置的两个p+阱层、n沟道层、n沟道层两侧左右对称设置的两个p+区、从左至右依次对称设置的p+区,n++区,p+区,p+区,n++区和p+区、从左至右依次对称设置的源极,栅极,肖特基接触,栅极和源极;源极设置在的原胞结构左右两侧相邻的p+区和n++区上方,栅极设置在原胞结构左右两侧的中部p+区上方,肖特基接触设置在有源区中原胞结构的部分中部n区上方,在原胞结构中其他部分n区上方无肖特基接触。本申请提出了集LJFET与VJFET于一体的,并且集成了肖特基二极管的SiC JFET器件,并提供了制作方法。
搜索关键词: 集成 肖特基 二极管 sicjfet 器件
【主权项】:
集成肖特基二极管的SiC JFET器件,其特征在于,所述SiC JFET器件有源区的原胞结构从下至上依次为漏极、SiC衬底、buffer层、n‑漂移层、左右对称设置的两个p+阱层、n沟道层、从左至右依次对称设置的p+区,n++区,p+区,p+区,n++区和p+区、从左至右依次对称设置的源极,栅极,肖特基接触,栅极和源极;其中,所述源极设置在的原胞结构左右两侧相邻的p+区和n++区上方,所述栅极设置在原胞结构左右两侧的中部p+区上方,所述肖特基接触设置在有源区中原胞结构的部分中部n区上方,在原胞结构中其他部分n区上方是介质和栅极互联金属。
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