[发明专利]一种TFT阵列基板跨线结构及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201711471805.4 申请日: 2017-12-29
公开(公告)号: CN108198786B 公开(公告)日: 2020-09-18
发明(设计)人: 衣志光 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: H01L21/84 分类号: H01L21/84;H01L27/12;H01L23/60
代理公司: 深圳汇智容达专利商标事务所(普通合伙) 44238 代理人: 潘中毅;熊贤卿
地址: 518000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明实施例公开了一种TFT阵列基板跨线结构的制作方法,其包括如下步骤:步骤1、提供一衬底基板,并形成两条平行的第一金属线段和第三金属线段;步骤2、在第一金属层上沉积第一绝缘层;步骤3、在第一绝缘层上沉积第二金属层,形成第二金属线段和第四金属线段,并形成跨接线,其中所述跨接线与第二金属线段、第四金属线段相错开,且跨接线至少一部分和第一金属线段相重叠;步骤4、在第二金属层上沉积钝化层;步骤5、在钝化层上形成至少一个过孔结构,并在钝化层上沉积形成连接线,连接线通过过孔结构与跨接线及第一金属线段电连接。本发明还公开了相应的跨线结构,实施本发明实施例,可以降低或避免跨线结构处的静电放电的现象。
搜索关键词: 一种 tft 阵列 基板跨线 结构 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种TFT阵列基板跨线结构的制作方法,其特征在于,至少包括如下步骤:步骤1、提供一衬底基板,在所述衬底基板的非显示区域上沉积第一金属层,形成两条平行的第一金属线段和第三金属线段;步骤2、在所述第一金属层和所述衬底基板上沉积第一绝缘层;步骤3、在所述衬底基板的非显示区域中第一绝缘层上沉积第二金属层,形成第二金属线段、第四金属线段以及跨接线,其中所述跨接线与所述第二金属线段、第四金属线段相错开,且所述跨接线至少一部分和所述第一金属线段相重叠;步骤4、在所述第二金属层上沉积钝化层;步骤5、在所述钝化层上形成至少一个过孔结构,并在所述钝化层上沉积形成连接线,所述连接线通过所述过孔结构与跨接线及所述第一金属线段电连接。
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