[发明专利]一种TFT阵列基板跨线结构及其制作方法有效
申请号: | 201711471805.4 | 申请日: | 2017-12-29 |
公开(公告)号: | CN108198786B | 公开(公告)日: | 2020-09-18 |
发明(设计)人: | 衣志光 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/84 | 分类号: | H01L21/84;H01L27/12;H01L23/60 |
代理公司: | 深圳汇智容达专利商标事务所(普通合伙) 44238 | 代理人: | 潘中毅;熊贤卿 |
地址: | 518000 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明实施例公开了一种TFT阵列基板跨线结构的制作方法,其包括如下步骤:步骤1、提供一衬底基板,并形成两条平行的第一金属线段和第三金属线段;步骤2、在第一金属层上沉积第一绝缘层;步骤3、在第一绝缘层上沉积第二金属层,形成第二金属线段和第四金属线段,并形成跨接线,其中所述跨接线与第二金属线段、第四金属线段相错开,且跨接线至少一部分和第一金属线段相重叠;步骤4、在第二金属层上沉积钝化层;步骤5、在钝化层上形成至少一个过孔结构,并在钝化层上沉积形成连接线,连接线通过过孔结构与跨接线及第一金属线段电连接。本发明还公开了相应的跨线结构,实施本发明实施例,可以降低或避免跨线结构处的静电放电的现象。 | ||
搜索关键词: | 一种 tft 阵列 基板跨线 结构 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种TFT阵列基板跨线结构的制作方法,其特征在于,至少包括如下步骤:步骤1、提供一衬底基板,在所述衬底基板的非显示区域上沉积第一金属层,形成两条平行的第一金属线段和第三金属线段;步骤2、在所述第一金属层和所述衬底基板上沉积第一绝缘层;步骤3、在所述衬底基板的非显示区域中第一绝缘层上沉积第二金属层,形成第二金属线段、第四金属线段以及跨接线,其中所述跨接线与所述第二金属线段、第四金属线段相错开,且所述跨接线至少一部分和所述第一金属线段相重叠;步骤4、在所述第二金属层上沉积钝化层;步骤5、在所述钝化层上形成至少一个过孔结构,并在所述钝化层上沉积形成连接线,所述连接线通过所述过孔结构与跨接线及所述第一金属线段电连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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