[发明专利]存储器的高可靠性错误检测方法、读取控制方法及装置有效
| 申请号： | 201711406432.2 | 申请日： | 2017-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN108154902B | 公开（公告）日： | 2020-11-13 |
| 发明（设计）人： | 吴昭逸;乔斌;贲伟建;张志;张明;金烨;邱禹;肖自铧 | 申请（专利权）人： | 联芸科技（杭州）有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/42 | 分类号： | G11C29/42;H03M13/11 |
| 代理公司： | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人： | 蔡纯;张靖琳 |
| 地址： | 310053 浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请公开了存储器的高可靠性错误检测方法、读取控制方法及装置。该方法包括：在所述存储器的存储单元上施加预定的检测电压，所述检测电压为默认电压与偏置电压之和；获得所述存储单元的电压电平；将所述存储单元的电压电平与参考电压相比较以获得存储数据；以及采用第一LLR，对所述存储数据进行LDPC的第一软判决译码，其中，所述方法还包括采用LDPC的硬判决译码进行高可靠性错误检测，以及在判定发生高可靠性错误时，采用第二LLR，对所述存储数据进行LDPC的第二软判决译码。该方法提供新的高可靠性错误检测方法，并且在发生高可靠性错误时采用LLR的重新分配降低对软判决纠错能力造成的伤害。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 可靠性 错误 检测 方法 读取 控制 装置 | ||
【主权项】：
一种用于存储器的高可靠性错误检测方法，包括：在多个偏置电压下进行LDPC的硬判决译码以获得多个差异值，所述差异值表示多次重试读取时相邻两次读取到的数据差异量；根据所述多个偏置电压与所述多个差异值之间的关系建立硬判决译码的实际模型；以及将硬判决译码的预估模型与所述实际模型相比较，以获得所述多个差异值发生异常的异常电压，其中，所述高可靠性错误检测方法判定在所述异常电压执行读取操作时发生高可靠性错误。
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