[发明专利]一种存储器模拟测试方法在审
申请号: | 201711381728.3 | 申请日: | 2017-12-20 |
公开(公告)号: | CN108039191A | 公开(公告)日: | 2018-05-15 |
发明(设计)人: | 周涵 | 申请(专利权)人: | 宣城新维保网络技术有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 杭州千克知识产权代理有限公司 33246 | 代理人: | 赵卫康 |
地址: | 242000 安徽省宣城市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明提供一种存储器模拟测试方法,涉及数据测试技术领域,一种存储器模拟测试方法,包括以下步骤:S1:选择存储器上至少一个区域为测试区域;S2:将此区域进行无效标记;S3:烧录嵌入式软件至所述存储器;S4:判断嵌入式软件是否正常运行;如果嵌入式软件可以正常运行,则存储器可用。本发明一种存储器模拟测试方法简单实用,测试准确,可以有效寻找损坏区域,并可以有效判断测试存储器是否依然可用。 | ||
搜索关键词: | 一种 存储器 模拟 测试 方法 | ||
【主权项】:
1.一种存储器模拟测试方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:选择存储器上至少一个区域为测试区域;S2:将此区域进行无效标记;S3:烧录嵌入式软件至所述存储器;S4:判断嵌入式软件是否正常运行;如果嵌入式软件可以正常运行,则存储器可用。
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