[发明专利]一种背照式CMOS图像传感器像素单元及其制作方法在审
申请号: | 201711012987.9 | 申请日: | 2017-10-26 |
公开(公告)号: | CN107919372A | 公开(公告)日: | 2018-04-17 |
发明(设计)人: | 顾学强;周伟;范春晖 | 申请(专利权)人: | 上海集成电路研发中心有限公司;成都微光集电科技有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)31275 | 代理人: | 吴世华,陈慧弘 |
地址: | 201210 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种背照式CMOS图像传感器像素单元及其制作方法,该像素单元从下而上依次包括含有光电二极管的衬底、第一介质层、电荷存储层、第二介质层和金属层,还包括贯穿所述第一介质层、电荷存储层和第二介质层,且侧壁与衬底垂直的接地窗口,所述接地窗口在垂直方向上不与衬底中的光电二极管重合,所述金属层覆盖所述接地窗口和第二介质层表面,所述电荷存储层与接地窗口之间填充侧壁隔离区,确保所述电荷存储层不与接地窗口中的金属层直接接触。本发明提供的一种背照式CMOS图像传感器像素单元能够防止金属层和电荷存储层直接接触,从而避免接地金属层中的电荷和电荷存储层中电荷发生中和。 | ||
搜索关键词: | 一种 背照式 cmos 图像传感器 像素 单元 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种背照式CMOS图像传感器像素单元,其特征在于,从下而上依次包括含有光电二极管的衬底、第一介质层、电荷存储层、第二介质层和金属层,还包括贯穿所述第一介质层、电荷存储层和第二介质层,且侧壁与衬底垂直的接地窗口,所述接地窗口在垂直方向上不与衬底中的光电二极管重合,所述金属层覆盖所述接地窗口和第二介质层表面,所述电荷存储层与接地窗口之间填充侧壁隔离区,确保所述电荷存储层不与接地窗口中的金属层直接接触。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海集成电路研发中心有限公司;成都微光集电科技有限公司,未经上海集成电路研发中心有限公司;成都微光集电科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711012987.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的