[发明专利]发光器件的老化测试方法和老化测试系统有效
| 申请号： | 201710457024.3 | 申请日： | 2017-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN107018603B | 公开（公告）日： | 2019-05-17 |
| 发明（设计）人： | 孔超;郑克宁;陈栋;梁逸南 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | H05B33/08 | 分类号： | H05B33/08;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 汪源;陈源 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种发光器件的老化测试方法和老化测试系统。该方法包括：在对发光器件进行老化的过程中，采集所述发光器件的多个第一特征参数和与每个第一特征参数对应的时间；根据所述第一特征参数和与每个第一特征参数对应的时间生成特征线，并生成所述特征线的斜率；判断所述特征线的斜率是否大于或等于设定阈值且小于0；若判断出所述特征线的斜率大于或等于设定阈值且小于0时，停止对发光器件进行老化。本发明对不同的发光器件进行相应的老化处理，降低了不同的发光器件之间的寿命差异，从而提高了发光器件寿命的均一性。 | ||
| 搜索关键词： | 发光 器件 老化 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种发光器件的老化测试方法，其特征在于，包括：S1、在对发光器件进行老化的过程中，采集所述发光器件的多个第一特征参数和与每个第一特征参数对应的测试时间；S2、根据所述第一特征参数和与每个第一特征参数对应的测试时间生成特征线，并生成所述特征线的斜率；S3、判断所述特征线的斜率是否大于或等于设定阈值且小于0，若判断出所述特征线的斜率大于或等于0时执行步骤S4；若判断出所述特征线的斜率大于或等于设定阈值且小于0时执行步骤S5，若判断出所述特征线的斜率小于设定阈值时继续执行步骤S1；S4、将特征线的斜率大于或等于0时对应的第一特征参数清零以及将初始特征参数设置为特征线的斜率大于或等于0时对应的第一特征参数中的最大值，并继续执行步骤S1；S5、停止对发光器件进行老化。
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