[发明专利]一种声表面波器件单面抛光衬底片制备方法有效

专利信息
申请号: 201710439933.4 申请日: 2017-06-12
公开(公告)号: CN107088793B 公开(公告)日: 2019-02-19
发明(设计)人: 胡吉海;石自彬;周益民;罗传英;唐荣安;陈新华 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第二十六研究所
主分类号: B24B1/00 分类号: B24B1/00;B24B37/08;B24B37/34
代理公司: 重庆博凯知识产权代理有限公司 50212 代理人: 李海华
地址: 400060 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明公开了一种声表面波器件单面抛光衬底片制备方法,依次包括如下步骤,毛坯晶片腐蚀;毛坯晶片打毛;打毛后的晶片再腐蚀;晶片非加工面粘接;抛光面细磨、精磨;晶片分离并腐蚀;倒角;两晶片非抛光面粘接;抛光面粗抛;CMP精抛;工件分离并清洗。其中晶片粘接采用水溶性粘接剂,由阿拉伯树胶、纯水、铝矾和甘油构成。同时在打磨和抛光环节同时进行两面的打磨和抛光。本发明通过工艺改进,产品良品率达到95%以上,具有产品指标一致性好、技术指标高、加工效率高、生产成本低、工艺易实现和易监控等特点,能够满足产业化大规模批生产的要求。
搜索关键词: 一种 表面波 器件 单面 抛光 衬底 制备 方法
【主权项】:
1.一种声表面波器件单面抛光衬底片制备方法,其特征在于:包括如下步骤,1)毛坯晶片腐蚀:将毛坯晶片放入腐蚀液中,以消除毛坯晶片中的应力,同时可减少后续加工的裂片率;2)毛坯晶片打毛:将毛坯晶片两面打毛,磨削量0.03mm/片,压力1‑1.5Kg/片,时间10‑20min;3)晶片腐蚀:将步骤2)打毛后的晶片放入腐蚀液中,利用腐蚀液消除产品加工应力;4)晶片粘结:使用粘接剂将两片晶片非加工面粘接保护起来;5)抛光面细磨、精磨:将粘接后的两晶片装入行星轮中,采用聚胺脂抛光革为磨盘,白刚玉为磨料,同时对产品两面进行细磨和精磨,总磨削量30‑40μm,并使表面在强光下肉眼观察无划道,产品粗糙度≤50nm;6)晶片分离并腐蚀:将步骤5)加工后的两晶片分离,再放入腐蚀液中消除应力;7)倒角:对晶片上下两面与圆周面的结合部进行倒角处理;8)晶片粘结:使用粘接剂将倒角后两晶片非抛光面粘接保护起来;9)抛光面粗抛:采用钻石膏同时对粘接在一起的两晶片抛光面进行机械抛光,抛光革采用合成纤维抛光革,抛光量0.02mm/片,压力3‑4Kg/片,时间200‑300min,抛光完成后应使产品在强光下观察无划痕,粗糙度Ra<2nm;10)CMP精抛:步骤9)粗抛后,再同时对粘接在一起的两晶片抛光面进行CMP精抛;11)工件分离并清洗;步骤4)和步骤8)所述粘接剂为水溶性粘接剂,由阿拉伯树胶、纯水、铝矾和甘油构成,四者质量比为100∶160‑185∶15‑30∶15‑25;步骤6)晶片分离直接在纯水中浸泡实现。
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