[发明专利]一种基于刻印辅助定位的膜厚控制系统有效

专利信息
申请号: 201710429667.7 申请日: 2017-05-28
公开(公告)号: CN107053637B 公开(公告)日: 2019-12-03
发明(设计)人: 鲍军民 申请(专利权)人: 浙江商业职业技术学院
主分类号: B29C48/08 分类号: B29C48/08;B29C48/92
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310053 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种基于刻印辅助定位的膜厚控制系统,其包括一个由采集模块、辅助定位模块、处理模块、控制模块等组成的监测控制单元,在处理单元的指令下,辅助定位模块中的强度调节部、调焦部和驱动部共同控制执行机构动作,使刻印子单元在铸片的预设位置上刻印出V形或U形缺口印记,基于采集模块所采集数据,处理模块计算获取薄膜厚度和挤出机模头各螺栓的位置,并分别通过变频器和模头调节器控制挤出机转速和模头的开度。本发明通过印记刻印和剖面数据处理,分析处理得到厚度参数,能快速对模头螺栓进行准确定位,从而通过唇口开度和挤出速度调节达到薄膜横纵向厚度的均匀,且辅助定位过程所需的刻印量少。
搜索关键词: 基于 刻印 辅助 定位 控制系统
【主权项】:
1.一种基于刻印辅助定位的膜厚控制系统,其包括挤出单元、冷却成型单元、拉伸单元、测厚单元、监测控制单元和收卷单元,所述挤出单元包括挤出机和模头,所述拉伸单元包括纵拉模块和横拉模块,所述测厚单元包括第一测厚仪及第二测厚仪,薄膜原料熔体从挤出机挤出后经冷却成型单元固化为铸片,铸片经拉伸单元拉伸为宽卷薄膜后由收卷单元收存为母卷,所述第一测厚仪及第二测厚仪分别位于拉伸单元两端对铸片和宽卷薄膜进行厚度监测,其特征在于:/n所述监测控制单元包括采集模块、处理模块、辅助定位模块、控制模块、模头调节器和变频器,所述辅助定位模块又包括强度调节部、调焦部、驱动部和执行机构,所述执行机构中含有一个刻印子单元;所述采集模块从测厚单元采集薄膜剖面厚度曲线数据后传送给处理模块,处理模块指令强度调节部、调焦部和驱动部共同控制执行机构动作,使所述刻印子单元在由挤出机挤出后冷却成型的铸片的预设位置上刻印出V形或U形缺口印记;基于所采集数据,处理模块对所述曲线的极值点进行搜索和判断,计算获取薄膜厚度和挤出机模头各螺栓的位置,并分别通过变频器和模头调节器控制挤出机转速和模头的开度;/n所述刻印子单元设置在用来将从挤出机挤出的薄膜原料熔体贴在激冷辊上的主气刀的前方,其所刻印的印记由多个深度不同的矩形刻槽组成,所述多个刻槽叠加后从正面看形成一个V形或U形缺口印记;/n所述刻印子单元包括两个其刻印头分别与挤出机模头两端部螺栓位置相固定连接的刻印模块,所述刻印模块采用激光刻印模块;并且,所述膜厚控制系统还包括一个同步子模块,所述同步子模块为驱动部提供刻印开始的时间信息,并使得所述测厚仪单程从一边移动到另一边的时间为所述矩形刻槽刻印周期的整数倍且所有的所述矩形刻槽均能被测厚仪检测到。/n
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