[发明专利]对准激光加性制造系统的激光器有效

专利信息
申请号: 201710256595.0 申请日: 2017-01-20
公开(公告)号: CN106984897B 公开(公告)日: 2020-08-11
发明(设计)人: D·E·克里尔;D·E·施克;A·L·小斯万纳 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: B23K26/035 分类号: B23K26/035
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 郑浩;刘春元
地址: 美国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供在重叠区域中将激光加性制造系统的一对校准的激光器对准的方法,在该重叠区域中该对校准的激光器有选择地操作。单独采用该对校准的激光器中的第一校准的激光器,并且然后单独采用该对校准的激光器中的第二校准的激光器在该对校准的激光器的重叠区域中形成测试结构的相应的第一和第二多层。该测试结构的形成创建与该重叠区域相对应的测试结构的外表面。测量在该测试结构的外表面中的第一多层和第二多层之间创建一个或多个步的一个或多个尺寸。通过将一个或多个步的一个或多个尺寸作为一个或多个对准校正应用于该对校准的激光器至少一个来将该激光器对准。
搜索关键词: 对准 激光 制造 系统 激光器
【主权项】:
一种用于在重叠区域(182)中将激光加性制造系统(100)的一对校准的激光器(134,136)对准的方法,在所述重叠区域中所述一对校准的激光器(134,136)有选择地操作,所述方法包括:单独使用所述一对校准的激光器(134,136)中的第一校准的激光器(134)在所述一对校准的激光器(134,136)的所述重叠区域(182)中第一形成测试结构(180)的第一多层(184);单独使用所述一对校准的激光器(134,136)中的第二校准的激光器(136)在所述一对校准的激光器(134,136)的所述重叠区域(182)中第二形成所述测试结构(180)的第二多层(190),所述第一和第二形成创建与所述重叠区域(182)对应的所述测试结构(180)的外表面(192);测量在所述测试结构(180)的所述外表面(192)中的所述第一多层(184)和所述第二多层(136)之间创建的偏移步(200,202)的尺寸;以及通过将所述偏移步(200,202)的所述尺寸作为对准校正(111)应用于所述一对校准的激光器(134,136)中的至少一个来将所述一对校准的激光器(134,136)对准。
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