[发明专利]对准激光加性制造系统的激光器

权利要求书

1.一种用于在重叠区域中将激光加性制造系统的一对校准的激光器对准的方法，在所述重叠区域中所述一对校准的激光器有选择地操作，所述方法包括：

单独使用所述一对校准的激光器中的第一校准的激光器在所述一对校准的激光器的所述重叠区域中第一形成测试结构的第一多层；

单独使用所述一对校准的激光器中的第二校准的激光器在所述一对校准的激光器的所述重叠区域中所述第一多层上第二形成所述测试结构的第二多层，所述第一和第二形成创建所述测试结构的顶部表面以及与所述重叠区域对应的所述测试结构的外表面，所述外表面垂直于所述顶部表面；

测量在所述测试结构的所述外表面中的所述第一多层和所述第二多层之间创建的偏移步的尺寸；以及

通过将所述偏移步的所述尺寸作为对准校正应用于所述一对校准的激光器中的至少一个来将所述一对校准的激光器对准。

2.如权利要求1所述的方法，其中，测量包含使用坐标测量机器对所述测试结构的所述外表面进行扫描。

3.如权利要求2所述的方法，其中，所述坐标测量机器包含配置成对所述测试结构的所述外表面进行扫描的激光器。

4.如权利要求1所述的方法，其中，所述第一和第二形成包含采用所述第一和第二校准的激光器中的每个的激光功率，其与每个校准的激光器进行操作以使用所述激光加性制造系统来创建对象的激光功率基本相等。

5.如权利要求1所述的方法，其中，测量和对准包含：

测量在所述测试结构的所述外表面中的所述第一多层和所述第二多层之间创建的X方向偏移步的X方向尺寸；

测量在所述测试结构的所述外表面中的所述第一多层和所述第二多层之间创建的Y方向偏移步的Y方向尺寸；

通过将所述X方向偏移步的所述X方向尺寸作为第一对准校正应用于所述一对校准的激光器中的一个并且将所述Y方向偏移步的所述Y方向尺寸作为第二对准校正应用于所述一对校准的激光器中的一个来将所述一对校准的激光器对准。

6.如权利要求1所述的方法，还包括针对与所述激光加性制造系统的多个重叠区域对应的多个测试结构的每个而重复进行所述第一形成，所述第二形成，测量和对准。

7.如权利要求1所述的方法，其中，将所述偏移步的所述尺寸作为所述对准校正应用包含将所述偏移步的所述尺寸作为所述对准校正应用于所述一对校准的激光器中所选择的激光器。

8.如权利要求1所述的方法，其中，所述第一和第二形成包含在能够从所述激光加性制造系统去除的构件上形成所述测试结构。

9.一种用于在重叠区域中将激光加性制造系统中的一对校准的激光器对准的方法，在所述重叠区域中所述一对校准的激光器有选择地操作，所述方法包括：

单独使用所述一对校准的激光器中的第一校准的激光器在所述一对校准的激光器的所述重叠区域中第一形成测试结构的第一多层；

单独使用所述一对校准的激光器中的第二校准的激光器在所述一对校准的激光器的所述重叠区域中所述第一多层上第二形成测试结构的第二多层，所述第一和第二形成创建所述测试结构的顶部表面以及与所述重叠区域对应的所述测试结构的外表面，其中所述外表面垂直于所述顶部表面，以及其中所述第一和第二形成包含采用所述第一和第二校准的激光器中的每个的激光功率，其与每个校准的激光器进行操作以使用所述激光加性制造系统来创建对象的激光功率基本相等；

测量在所述测试结构的所述外表面中的所述第一多层和所述第二多层之间创建的偏移步的尺寸；

通过将所述偏移步的所述尺寸作为对准校正应用于所述一对校准的激光器中的所选择的激光器来将所述一对校准的激光器对准。

10.如权利要求9所述的方法，其中，测量包含使用坐标测量机器对所述测试结构的所述外表面进行扫描。

11.如权利要求10所述的方法，其中，所述坐标测量机器包含配置成对所述测试结构的所述外表面进行扫描的激光。