[发明专利]存储器及其编程方法、擦除方法和读取方法、电子装置有效

专利信息
申请号: 201710217698.6 申请日: 2017-04-05
公开(公告)号: CN108695331B 公开(公告)日: 2020-11-27
发明(设计)人: 赵祥富;简维廷 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司;中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H01L27/11521 分类号: H01L27/11521;G11C16/04
代理公司: 北京市磐华律师事务所 11336 代理人: 董巍;高伟
地址: 100176 北京市大*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种存储器及其编程方法、擦除方法和读取方法、电子装置,所述存储器包括:半导体衬底;浮栅,设置在所述半导体衬底上;隧穿氧化层,设置在所述浮栅的侧壁上;第一选择栅和第二选择栅,并行设置在所述浮栅的两侧,第一选择栅与所述浮栅之间以及所述第二选择栅和所述浮栅之间通过所述隧穿氧化层隔离。本发明的存储器存储单元面积小,可自由选择数据写入和擦除速度,数据存储稳定,有效寿命长。
搜索关键词: 存储器 及其 编程 方法 擦除 读取 电子 装置
【主权项】:
1.一种存储器,其特征在于,包括:半导体衬底;浮栅,设置在所述半导体衬底上;隧穿氧化层,设置在所述浮栅的侧壁上;第一选择栅和第二选择栅,并行设置在所述浮栅的两侧,所述第一选择栅与所述浮栅之间以及所述第二选择栅和所述浮栅之间通过所述隧穿氧化层隔离。
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