[发明专利]一种阻焊曝光方法有效

专利信息
申请号: 201710181528.7 申请日: 2017-03-24
公开(公告)号: CN106707700B 公开(公告)日: 2018-04-06
发明(设计)人: 傅志伟 申请(专利权)人: 上海誉刻智能装备有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司23211 代理人: 彭素琴
地址: 201612 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种阻焊曝光方法,属于曝光机技术领域,所述阻焊曝光方法,包括步骤(1)对样品的阻焊区域进行直写曝光,(2)对样品整个区域进行混合波长的平行光曝光,(3)将样品进行显影处理,将非阻焊区域的阻焊层显影去除;该方法避免了DMD接受多波长混合光,大大延长DMD的使用寿命,降低生产成本,对设备要求较低,利用二次平行光进行能量补偿,减少DMD个数,减少成本和设备复杂性,使阻焊层在外观上有明显的光泽度,使产品具有更好的抗氧化性和抗冲击能力,在回流焊过程中性质更加稳定。
搜索关键词: 一种 曝光 方法
【主权项】:
一种阻焊曝光方法,所述阻焊曝光方法,包括以下步骤:(1)对样品的阻焊区域进行直写曝光;(2)对样品整个区域进行混合波长的平行光曝光;(3)将样品进行显影处理,将非阻焊区域的阻焊层显影去除;步骤(1)中所述的直写曝光的光源波长为400nm‑420nm,步骤(2)中所述平行光曝光的光源为波长 380nm‑390nm和波长为360nm‑370nm的混合光,所述直写曝光的光源和平行光曝光的混合光源能量比为80%‑95%:5%‑20%。
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