[发明专利]一种介质厚度测量方法、装置及ATM机

摘要

本发明属于测量领域，提供了一种介质厚度测量方法、装置及ATM机，所述方法获取待测量介质的厚度信号值；确定所述待测量介质的厚度信号值所属的预设厚度区间；获取与确定的所述厚度区间对应的标准参数，所述标准参数根据标准介质的厚度信号值与实际厚度值之间的映射关系预先设定；根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值。通过本发明实施例，根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值，所述标准参数根据标准介质的厚度信号值与实际厚度值之间的映射关系预先设定，无需额外的高精度测试治具，省去了繁琐的静态校正环节，具有较强的实用性。

主权项

1.一种介质厚度测量方法，其特征在于，包括：获取待测量介质的厚度信号值；确定所述待测量介质的厚度信号值所属的预设厚度区间；获取与确定的所述厚度区间对应的标准参数，所述标准参数根据标准介质的厚度信号值与实际厚度值之间的映射关系预先设定，包括标准介质的厚度信号值、标准介质的实际厚度值和转化系数；根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值；所述转化系数的计算过程包括：获取各个标准介质的厚度信号值和实际厚度值；根据所述各个标准介质的厚度信号值划分各个厚度区间；根据所述各个标准介质的厚度信号值和实际厚度值计算与所述各个厚度区间对应的转化系数。