[发明专利]一种通过直流磁控溅射法制备氧化钽薄膜的方法有效
申请号: | 201710089165.4 | 申请日: | 2017-02-20 |
公开(公告)号: | CN106958008A | 公开(公告)日: | 2017-07-18 |
发明(设计)人: | 王海钱;苏豪凯;温刘平;吴智升;王伯宇;王晓强 | 申请(专利权)人: | 东北大学秦皇岛分校 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/08 |
代理公司: | 北京联创佳为专利事务所(普通合伙)11362 | 代理人: | 郭防;王培境 |
地址: | 066004 河北省秦皇岛市经*** | 国省代码: | 河北;13 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种通过直流磁控溅射法制备氧化钽薄膜的方法,包括以下步骤:取经过预处理的基材放入磁控溅射仪的反应室中,反应室抽真空后,充入纯度为99.95%的Ar作为工作气体和纯度为99.95%的O2作为反应气体,调节溅射工作气压,设置溅射功率,溅射Ta靶材,在基材上获得氧化钽薄膜。本发明提供的一种通过直流磁控溅射法制备氧化钽薄膜的方法,所得TaOx薄膜具有优良的离子传输性能、低的电导率和较高的透过率。氧化钽膜层致密性良好。 | ||
搜索关键词: | 一种 通过 直流 磁控溅射 法制 氧化 薄膜 方法 | ||
【主权项】:
一种通过直流磁控溅射法制备氧化钽薄膜的方法,其特征在于:包括以下步骤:取经过预处理的基材放入磁控溅射仪的反应室中,反应室抽真空后,充入纯度为99.95%的Ar作为工作气体和纯度为99.95%的O2作为反应气体,调节溅射工作气压,设置溅射功率,溅射Ta靶材,在基材上获得TaOx薄膜。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东北大学秦皇岛分校,未经东北大学秦皇岛分校许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710089165.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:蒸发装置
- 下一篇:一种氮化铝陶瓷覆铜板及其制备方法
- 同类专利
- 专利分类