[实用新型]一种提高非晶测试效率的测试装置有效
| 申请号： | 201620783515.8 | 申请日： | 2016-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN205810767U | 公开（公告）日： | 2016-12-14 |
| 发明（设计）人： | 景丽欢;谷媛;徐雨;胡星星 | 申请（专利权）人： | 深圳市信维通信股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;H01L21/67 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种提高非晶测试效率的测试装置，其通过在原有测试治具上增加了一个挡板，利用设置在挡板上的若干传动辊和导向柱转动实现带动料带前进，并利用磁铁在料带运行到测试治具的测试区域位置时，吸附固定待测单片非晶，从而完成对待测单片非晶的连续测试。与现有技术相比，本实用新型增加了生产测试的连续性，提高了测试效率，减少了作业动作，提高了组装效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 提高 测试 效率 装置 | ||
【主权项】：
一种提高非晶测试效率的测试装置，包括示波器(10)和与示波器(10)联接的测试治具(20)，所述测试治具(20)上设置有一用于固定待测单片非晶的测试区域(21)，其特征在于，所述测试治具(20)一侧设置有一挡板(30)；所述挡板(30)上从左向右依次设置有与所述测试治具(20)上表面平行的第一传动辊(31)、第一导向柱(32)、第二导向柱(33)和第二传动辊(36)，所述第二传动辊(36)的下方设置有一导向辊(35)；所述第一传动辊(31)上固定有料带卷，且从该料带卷延伸出的料带(40)依次穿过第一导向柱(32)下方、第二导向柱(33)上方之后，穿过第二传动辊(36)与导向辊(35)之间。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
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