[实用新型]发光均匀度校正设备有效

专利信息
申请号: 201620364489.5 申请日: 2016-04-27
公开(公告)号: CN205809534U 公开(公告)日: 2016-12-14
发明(设计)人: 张鸿明 申请(专利权)人: 川宝科技股份有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 北京市浩天知识产权代理事务所(普通合伙)11276 代理人: 刘云贵;王东
地址: 中国台湾*** 国省代码: 台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型公开一种发光均匀度校正设备,适用于对曝光机的发光模块进行发光均匀度校正。通过感测模块于对应发光模块所分布的各个取样位置感测产生光强度信号,处理模块根据这些光强度信号来分析该发光模块的发光均匀度,并于该发光模块的发光均匀度不符合一均匀度标准时产生对应的一校正信号,而调整模块根据校正信号对应地调整该发光模块所具有的发光单元中的至少一者的发光强度。由此,通过自动化设备来对该发光模块进行发光均匀度校正,可迅速方便地针对发光强度有异常的区域各别进行调整来确保发光均匀度,进而提升电路板的制造良率。
搜索关键词: 发光 均匀 校正 设备
【主权项】:
一种发光均匀度校正设备,适用于对曝光机的一发光模块进行发光均匀度校正,且该发光模块具有多个发光单元以产生一面光源,其特征在于,该发光均匀度校正设备包含:一感测模块,与该发光模块的发光面相对设置,并于对应该发光面的多个取样位置上对该发光面进行光强度感测,且根据于各该取样位置所感测的光线的强度而分别产生对应的一光强度信号;一移动模块,根据一取样位置信息信号,使该感测模块与该发光模块的间产生相对位移以于各该取样位置间进行移动;一处理模块,与该感测模块及该移动模块相耦接,并输出该取样位置信息信号且接收该感测模块于各该取样位置所产生的光强度信号,并于该发光面的发光均匀度不符合一均匀度标准时产生对应的一校正信号;及一调整模块,与该处理模块及该发光模块相耦接,根据该校正信号对应地调整这些发光单元中的至少一者的发光强度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于川宝科技股份有限公司,未经川宝科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201620364489.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top