[发明专利]制作半导体元件的方法有效

专利信息
申请号: 201611258720.3 申请日: 2016-12-30
公开(公告)号: CN108269806B 公开(公告)日: 2019-09-17
发明(设计)人: 张峰溢;邹世芳;李甫哲;郭明峰;陈立强 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司;福建省晋华集成电路有限公司
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开一种制作半导体元件的方法。首先提供一基底,该基底上具有一存储区,然后形成一沟槽于基底内,形成一阻障层于沟槽内,形成一导电层于阻障层上,进行一第一蚀刻制作工艺去除部分导电层,之后再进行一第二蚀刻制作工艺去除部分阻障层,其中第二蚀刻制作工艺包含一无等离子体蚀刻制作工艺。
搜索关键词: 蚀刻制作工艺 阻障层 基底 半导体元件 导电层 去除 等离子体蚀刻 制作工艺 制作
【主权项】:
1.一种制作半导体元件的方法,包含:提供一基底,该基底上具有一存储区;形成一沟槽于该基底内;形成一阻障层于该沟槽内;形成一导电层于该阻障层上;进行一第一蚀刻制作工艺去除部分该导电层;以及进行一第二蚀刻制作工艺去除部分该阻障层,其中该第二蚀刻制作工艺包含:通入一离子化的第一气体至一反应室;利用一离子过滤器去除该气体中的电荷以形成一第二气体,该第二气体为一不带有电荷的气体;以及利用该第二气体去除部分该阻障层。
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