[发明专利]一种存储芯片性能的测试方法和装置在审
| 申请号： | 201611110791.9 | 申请日： | 2016-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN108154904A | 公开（公告）日： | 2018-06-12 |
| 发明（设计）人： | 冯颖俏 | 申请（专利权）人： | 北京京存技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆;胡彬 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种存储芯片性能的测试方法及装置。该方法包括：向待测试存储芯片执行设定数量的全盘写入和读取操作；在全盘写入的过程中，对待测试存储芯片所包括的每个存储单元，进行擦除次数计数并记录；在全盘读取之后，将读取数据与写入数据进行比对，以记录每个存储单元的错误位数；在全盘写入和读取的过程中，记录写入性能参数和读取性能参数；重复执行上述测试过程，直至所述待测试存储芯片老化失效。通过本发明的技术方案，能够对存储芯片的老化性能进行有效测试。 | ||
| 搜索关键词： | 存储芯片 测试 读取 写入 存储单元 记录 测试方法及装置 方法和装置 测试过程 错误位数 读取操作 读取性能 老化性能 写入数据 写入性能 有效测试 重复执行 比对 擦除 老化 | ||
【主权项】：
一种存储芯片性能的测试方法，其特征在于，包括：向待测试存储芯片执行设定数量的全盘写入和读取操作；在全盘写入的过程中，对待测试存储芯片所包括的每个存储单元，进行擦除次数计数并记录；在全盘读取之后，将读取数据与写入数据进行比对，以记录每个存储单元的错误位数；在全盘写入和读取的过程中，记录写入性能参数和读取性能参数；重复执行上述测试过程，直至所述待测试存储芯片老化失效。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京京存技术有限公司，未经北京京存技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201611110791.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
