[发明专利]一种基于主动聚焦的实时聚焦方法及装置有效

专利信息
申请号: 201611066229.0 申请日: 2016-11-28
公开(公告)号: CN106707695B 公开(公告)日: 2018-09-21
发明(设计)人: 蔡志国;罗宜清 申请(专利权)人: 深圳凯世光研股份有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 深圳市合道英联专利事务所(普通合伙) 44309 代理人: 廉红果
地址: 518000 广东省深圳市宝*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种基于主动聚焦的实时聚焦方法及装置,通过主动聚焦方式,实现实时聚焦。曝光前利用测距仪测量一个条带曝光基本面至镜头的数据,在曝光时进行运用;曝光过程中,测距仪会测量下一条带曝光基层高度的数据,在接下来的曝光中进行运用。通过这样测量一组数据,替代曝光下一条带进行运用的方式,实现了主动实时聚焦。比纯软件聚焦更快,更精细。
搜索关键词: 聚焦 曝光 条带 测量 测距仪测量 聚焦方式 曝光过程 测距仪 基本面 组数据 精细 镜头 替代 基层
【主权项】:
1.一种基于主动聚焦的实时聚焦方法,其特征在于,具体按照以下步骤实施:步骤1,扫描步进曝光机按照条带进行曝光,条带是一个长方形曝光区域,一次扫描曝光一个条带,一个条带接着一个条带的顺序曝光,所有条带构成整个曝光区域;步骤2,曝光首条带前测距仪通过主动聚焦的方式扫描该条带,在曝光中由于基板出现的凹凸不平的情况,因此记录该条带的坐标为(X0,Y0)……(Xn、Yn),然后得到不同坐标位置所对应的Z轴高度值F;步骤3,曝光首条带时通过三轴定位平台Stage当前的坐标位置(X0,Y0),以及步骤2中测量的该坐标位置所对应的Z轴高度值F,得到三轴定位平台Stage在曝光位置的焦面值F0,移动三轴定位平台Stage的Z轴到F0位置,即实现此位置的聚焦;所述步骤2中的主动聚焦按照以下步骤实施:步骤2.1,设置三轴定位平台Stage中的X轴扫描方式为up‑to‑down,根据基板的厚度,计算Z轴至曝光镜头的理论高度值f;步骤2.2,移动平台至曝光首条带位置,启动测距仪的测量功能,测量即将在扫描过程中的Z轴变化值Fn;步骤2.3,X方向为步进,Y方向扫描,根据步骤2.1中的理论高度值f确定Z轴移动总步长Step,记录存储在Fn中;步骤2.4,在曝光时根据步骤2.3中的Fn,由镜头结构的Z轴电机进行一次实时聚焦;步骤2.5,继续曝光后面的条带,再通过测距仪测量不同Step已存储的数据Fn,再次进行运用;步骤2.6,重复步骤2.2‑2.5,即实现整个曝光过程中的主动聚焦。
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