[发明专利]用于校准粒度测量的纳米粒度标准物质及其制备方法在审
| 申请号： | 201610900591.7 | 申请日： | 2016-10-14 |
| 公开（公告）号： | CN106477586A | 公开（公告）日： | 2017-03-08 |
| 发明（设计）人： | 慕建洲;刘艳丽;窦晓亮;王丹;王欢 | 申请（专利权）人： | 北京海岸鸿蒙标准物质技术有限责任公司 |
| 主分类号： | C01B33/12 | 分类号： | C01B33/12;B82Y30/00;B82Y40/00;G01N15/10 |
| 代理公司： | 北京度衡知识产权代理有限公司11601 | 代理人： | 钟锦舜 |
| 地址： | 102600 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于校准粒度测量的纳米粒度标准物质，由标称粒径为80‑600nm的球形颗粒组成，所述球形颗粒为二氧化硅球形颗粒。所述的纳米粒度标准物质由以下步骤制作将正硅酸乙酯和乙醇加入反应器中，混匀，并将蒸馏水和氨水搅拌均匀形成混合液；将所述混合液缓缓滴入所述反应器中，持续搅拌，滴加完毕，继续搅拌预定时间，得到二氧化硅球形颗粒。本发明制备的纳米粒度标准物质具有良好的球形度、单分散性和稳定性，并能够满足颗粒测量的校准需求。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 校准 粒度 测量 纳米 标准 物质 及其 制备 方法 | ||
【主权项】：
用于校准粒度测量的纳米粒度标准物质，由标称粒径为80‑600nm的球形颗粒组成，所述球形颗粒为二氧化硅球形颗粒。
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