[发明专利]一种基于MXT9030的薄膜厚度测量系统在审

专利信息
申请号: 201610873171.4 申请日: 2016-09-30
公开(公告)号: CN106352784A 公开(公告)日: 2017-01-25
发明(设计)人: 王健;丁喜波;李博宸;蔡庆瑶 申请(专利权)人: 哈尔滨理工大学
主分类号: G01B7/06 分类号: G01B7/06
代理公司: 哈尔滨市伟晨专利代理事务所(普通合伙)23209 代理人: 李晓敏
地址: 150080 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 一种基于MXT9030的薄膜厚度测量系统,涉及一种薄膜厚度测量系统。本发明包括电容传感器、MXT9030电容‑电压转换器电路、PIC单片机、LED显示单元和工作指示灯;电容传感器与MXT9030电容‑电压转换器电路、PIC单片机依次连接,PIC单片机的输出端连接有LED显示单元和工作指示灯。本发明利用电容传感器精度高、能量损耗小、无接触磨损的特点,制作了符合薄膜厚度测量要求的传感器探头,MXT9030实现对电容传感器的信号检测,通过PIC单片机的控制,调节MXT9030电路的内部参数,使薄膜测量系统具有良好的线性度及灵敏度。本发明满足大范围内的电容差分信号输入,并具有良好的检测灵敏度和线性度。
搜索关键词: 一种 基于 mxt9030 薄膜 厚度 测量 系统
【主权项】:
一种基于MXT9030的薄膜厚度测量系统,其特征在于:包括电容传感器、MXT9030电容‑电压转换器电路、PIC单片机、LED显示单元和工作指示灯;所述电容传感器与MXT9030电容‑电压转换器电路、PIC单片机依次连接,PIC单片机的输出端连接有LED显示单元和工作指示灯。
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