[发明专利]用于预测芯片寿命的芯片内建自检电路系统在审
| 申请号： | 201610464305.7 | 申请日： | 2016-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN107544011A | 公开（公告）日： | 2018-01-05 |
| 发明（设计）人： | 陆宇;陈昭;程玉华 | 申请（专利权）人： | 上海北京大学微电子研究院 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201203 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提出用于预测芯片寿命的芯片内建自检电路，为维护人员提供维护依据，提前做好防范，减小不必要的损失。该结构建立于芯片上，包括阈值设置模块，参数检测模块，比较模块，信息发送模块等。所述阈值设置模块，用以选择可以用来检测芯片状态的模块以及失效值；所述参数检测模块，用以实时获取芯片工作状态参数；所述比较模块，用以将即时的芯片工作参数与阈值数值进行比较；所述信息发送模块，可以将比较结果发送到相关人员设备处，由工作人员决定具体的维护工作内容。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 预测 芯片 寿命 自检 电路 系统 | ||
【主权项】：
一种用于预测芯片寿命的芯片内建自检电路系统，其特征在于，包括：阈值设置模块，参数检测模块，比较模块，信息发送模块以及各模块间的连接电路；四个模块以及连接电路构成芯片自检电路整体；整个电路有输出和输入端口，便于获取和发送信息。
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