[发明专利]测试模式设置电路和包括其的半导体器件有效
| 申请号： | 201610437200.2 | 申请日： | 2016-06-17 |
| 公开（公告）号： | CN106875976B | 公开（公告）日： | 2020-12-08 |
| 发明（设计）人： | 李相昊;金京兑;朴宰范 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/10 | 分类号： | G11C29/10;G11C29/14;G11C29/18 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 李少丹;许伟群 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种测试模式设置电路可以包括：第一测试模式信号发生单元，其通过第一电源电压来操作，第一测试模式信号发生单元适用于在模式设置完成的状态下在第一电压电平处激活第一测试模式信号，所述第一测试模式信号在多个第一测试模式信号之中与测试码相对应；以及第二测试模式信号发生单元，其通过第二电源电压来操作，第二测试模式信号发生单元适用于将第一测试模式信号锁存在第二电压电平处，以及当第一电源电压被重置时将锁存的第一测试模式信号产生为第二测试模式信号。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 模式 设置 电路 包括 半导体器件 | ||
【主权项】：
一种测试模式设置电路，包括：第一测试模式信号发生单元，第一测试模式信号发生单元通过第一电源电压来操作，第一测试模式信号发生单元适用于在模式设置完成的状态下在第一电压电平处激活第一测试模式信号，所述第一测试模式信号在多个第一测试模式信号之中与测试码相对应；以及第二测试模式信号发生单元，第二测试模式信号发生单元通过第二电源电压来操作，第二测试模式信号发生单元适用于将第一测试模式信号锁存在第二电压电平处，以及在第一电源电压被重置时将锁存的第一测试模式信号产生为第二测试模式信号。
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