[发明专利]测试模式设置电路和包括其的半导体器件

权利要求书

1.一种测试模式设置电路，包括：

第一测试模式信号发生单元，第一测试模式信号发生单元通过第一电源电压来操作，第一测试模式信号发生单元适用于在模式设置完成的状态下在第一电压电平处激活第一测试模式信号，所述第一测试模式信号在多个第一测试模式信号之中与测试码相对应；以及

第二测试模式信号发生单元，第二测试模式信号发生单元通过第二电源电压来操作，第二测试模式信号发生单元适用于将第一测试模式信号锁存在第二电压电平处，以及在第一电源电压被重置时将锁存的第一测试模式信号产生为第二测试模式信号。

2.根据权利要求1所述的测试模式设置电路，其中，第二测试模式信号发生单元包括：

多个电平移位器，所述多个电平移位器通过第二电源电压来操作，每个电平移位器适用于在所述多个第一测试模式信号之中的对应的第一测试模式信号被激活时，通过将对应的第一测试模式信号的电平从第一电压电平移位至第二电压电平，来产生多个第二测试模式信号之中的对应的第二测试模式信号；以及

多个锁存单元，所述多个锁存单元通过第二电源电压来操作，每个锁存单元适用于锁存所述多个第二测试模式信号之中的对应的第二测试模式信号。

3.根据权利要求2所述的测试模式设置电路，其中，第一电源电压包括具有第一电压电平的电源电压，第二电源电压包括具有第二电压电平的电源电压，并且第二电压电平比第一电压电平高。

4.根据权利要求2所述的测试模式设置电路，其中，模式设置包括模式寄存器组MRS设置。

5.根据权利要求2所述的测试模式设置电路，其中，即使当第一电源电压被重置时，每个锁存单元也保持对应的第二测试模式信号的状态。

6.根据权利要求2所述的测试模式设置电路，其中，当第二电源电压被去激活时，每个锁存单元将对应的第二测试模式信号去激活。

7.根据权利要求2所述的测试模式设置电路，其中，当模式设置未完成时，第一测试模式信号发生单元将所有的第一测试模式信号保持在去激活状态。

8.一种半导体器件，包括：

模式寄存器组电路，适用于响应于命令和地址来设置和储存半导体器件的操作模式，以及在设置完成时将设置信号激活；

第一测试模式信号发生单元，第一测试模式信号发生单元通过第一电源电压来操作，并且适用于在设置信号被激活的状态下在第一电压电平处激活第一测试模式信号，所述第一测试模式信号在多个第一测试模式信号之中与测试码相对应；

第二测试模式信号发生单元，第二测试模式信号发生单元通过第二电源电压来操作，适用于将第一测试模式信号锁存在第二电压电平处，以及在第一电源电压被重置时将锁存的第一测试模式信号产生为第二测试模式信号；以及

内部电路，适用于在第二测试模式信号被激活时，执行与第二测试模式信号相对应的预定操作。

9.根据权利要求8所述的半导体器件，其中，第二测试模式信号发生单元包括：

多个电平移位器，所述多个电平移位器通过第二电源电压来操作，每个电平移位器适用于在所述多个第一测试模式信号之中的对应的第一测试模式信号被激活时，通过将对应的第一测试模式信号的电平从第一电压电平移位至第二电压电平来产生第二测试模式信号；

多个锁存单元，多个锁存单元通过第二电源电压来操作，每个锁存单元适用于锁存多个第二测试模式信号之中的对应的第二测试模式信号。

10.根据权利要求8所述的半导体器件，其中，第一电源电压包括具有第一电压电平的电源电压，第二电源电压包括具有第二电压电平的电源电压，并且第二电压电平比第一电压电平高。

11.根据权利要求8所述的半导体器件，其中，即使当第一电源电压被重置时，每个锁存单元也保持对应的第二测试模式信号的状态。