[发明专利]测试模式设置电路和包括其的半导体器件

说明书

一种测试模式设置电路可以包括：第一测试模式信号发生单元，其通过第一电源电压来操作，第一测试模式信号发生单元适用于在模式设置完成的状态下在第一电压电平处激活第一测试模式信号，所述第一测试模式信号在多个第一测试模式信号之中与测试码相对应；以及第二测试模式信号发生单元，其通过第二电源电压来操作，第二测试模式信号发生单元适用于将第一测试模式信号锁存在第二电压电平处，以及当第一电源电压被重置时将锁存的第一测试模式信号产生为第二测试模式信号。

相关申请的交叉引用

本申请要求2015年12月11日提交的申请号为10-2015-0176812的韩国专利申请的优先权，其全部内容通过引用合并于此。

技术领域

本发明的示例性实施例涉及测试模式设置电路和包括其的半导体器件。

背景技术

半导体器件可以包括测试模式设置电路，该测试模式设置电路用于设置测试模式，然后在多个测试操作之中选择测试操作。此外，半导体器件可以包括与多个测试操作相对应的多个测试电路。当测试操作被选中时，半导体器件可以将对应的测试电路使能，以执行选中的测试操作。测试模式可以表示为半导体器件设置的用来执行测试操作的特定操作模式。

图1为图示测试模式设置电路100的框图。图2为用于图示图1的测试模式设置电路100的操作的波形图。

参见图1，测试模式设置电路100可以响应于测试码TM_CODE来设置多个测试模式之中的与测试码TM_CODE相对应的测试模式。每个测试模式可以与多个测试模式信号TM1至TMn之中的测试模式信号相对应。

参见图2，测试模式设置电路100可以在模式设置完成(SET1)或者设置信号MRS_SET被激活时，设置多个测试模式之中的与测试码TM_CODE相对应的测试模式。测试模式设置电路100可以将多个测试模式信号TM1至TMn之中的与设置的测试模式相对应的测试模式信号激活。即，测试模式信号TMx可以被激活，其中，x为具有以下关系的自然数：1≤x≤n。激活的测试模式信号TMx可以在电源电压VDD被重置(VDD_RESET)时被去激活。

仅当模式设置完成时，测试模式设置电路100可以接着设置测试模式。因此，测试模式设置电路100在电源电压VDD被重置(VDD_RESET)之后直到模式设置完成(SET2)为止的时段A期间不能设置测试模式。供作参考，重置操作可以包括在电源电压被去激活之后重新激活电源电压。

发明内容

各种实施例涉及一种测试模式设置电路和包括其的半导体器件，该测试模式设置电路能够无论电源电压的重置如何都保持激活的测试模式信号的状态，以及设置测试模式以在电源电压重置之后模式设置完成之前执行测试模式。

在一个实施例中，一种测试模式设置电路可以包括：第一测试模式信号发生单元，第一测试模式信号发生单元通过第一电源电压来操作，第一测试模式信号发生单元适用于在模式设置完成的状态下在第一电压电平处激活第一测试模式信号，所述第一测试模式信号在多个第一测试模式信号之中与测试码相对应；以及第二测试模式信号发生单元，第二测试模式信号发生单元通过第二电源电压来操作，第二测试模式信号发生单元适用于将第一测试模式信号锁存在第二电压电平处，以及在第一电源电压被重置时将锁存的第一测试模式信号产生为第二测试模式信号。