[发明专利]一种制备单一相透明导电氧化亚铜薄膜的方法在审

专利信息
申请号: 201610409769.8 申请日: 2016-06-13
公开(公告)号: CN105821379A 公开(公告)日: 2016-08-03
发明(设计)人: 洪瑞金;王进霞;陶春先;张大伟 申请(专利权)人: 上海理工大学
主分类号: C23C14/08 分类号: C23C14/08;C23C14/35
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 31001 代理人: 吴宝根
地址: 200093 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种制备单一相透明导电氧化亚铜薄膜的方法,在室温下采用直流反应磁控溅射的方法,以铜靶材作为溅射靶材,以氧气作为反应气体,以氩气作为溅射气体,在基底上沉积氧化亚铜薄膜,沉积氧化亚铜薄膜是在真空度为6.0×10‑4Pa及以上的真空室中进行的;所述铜靶溅射功率为40‑150W,所述沉积时间为1‑30min;所述氧气流量为2‑30sccm,所述氩气流量为5‑100sccm。根据本发明的方法所制备的氧化亚铜薄膜透明导电、具有单一相、沉积速率高、可控性强且具有良好的附着性、均匀性和稳定性。在异质结太阳能电池、光电器件、气体感应材料、光催化剂、高温超导体材料、环境净化等领域有广泛的应用前景。
搜索关键词: 一种 制备 单一 透明 导电 氧化亚铜 薄膜 方法
【主权项】:
一种制备单一相透明导电氧化亚铜薄膜的方法,其特征在于:在室温下采用直流反应磁控溅射的方法,以铜靶材作为溅射靶材,以氧气作为反应气体,以氩气作为溅射气体,在基底上沉积氧化亚铜薄膜,沉积氧化亚铜薄膜是在真空度为6.0×10‑4Pa及以上的真空室中进行的;其中,所述铜靶溅射功率为40‑150W,所述沉积时间为1‑30min;所述氧气流量为2‑30sccm,所述氩气流量为5‑100sccm。
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