[发明专利]一种非易失性存储器中坏点单元的替换方法在审
| 申请号： | 201610390563.5 | 申请日： | 2016-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN106057246A | 公开（公告）日： | 2016-10-26 |
| 发明（设计）人： | 刘奎伟;薛子恒;潘荣华 | 申请（专利权）人： | 北京兆易创新科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/04 | 分类号： | G11C29/04;G11C16/10 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆;胡彬 |
| 地址： | 100083 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例公开了一种非易失性存储器中坏点单元的替换方法，该方法包括：在对非易失性存储器中存储单元进行擦写操作过程中，确定所述存储单元是否为坏点单元；如果所述存储单元为坏点单元，则确定所述非易失性存储器中是否存在可替换单元；如果存在所述可替换单元，则将所述坏点单元替换为所述可替换单元，并形成替换信息。利用该方法，与现有的替换方法相比，能够在非易失性存储器的实际使用过程中动态的替换非易失性存储器中的坏点单元，由此使得替换后的可替换单元能够代替坏点单元正常进行数据存储，进而延长非易失性存储器的使用寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 非易失性存储器 中坏点 单元 替换 方法 | ||
【主权项】：
一种非易失性存储器中坏点单元的替换方法，其特征在于，包括：在对非易失性存储器中存储单元进行擦写操作过程中，确定所述存储单元是否为坏点单元；如果所述存储单元为坏点单元，则确定所述非易失性存储器中是否存在可替换单元；如果存在所述可替换单元，则将所述坏点单元替换为所述可替换单元，并形成替换信息。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京兆易创新科技股份有限公司，未经北京兆易创新科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610390563.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
