[发明专利]FOP双面邦定方法、FOP双面邦定的对位方法及其对位机构有效
| 申请号： | 201610352300.5 | 申请日： | 2016-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN105934099B | 公开（公告）日： | 2018-11-06 |
| 发明（设计）人： | 胡金;曾强 | 申请（专利权）人： | 深圳市联得自动化装备股份有限公司 |
| 主分类号： | H05K3/00 | 分类号： | H05K3/00 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 刘雯 |
| 地址： | 518100 广东省深圳市宝安区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种FOP双面邦定方法、FOP双面邦定的对位方法及其对位机构。上述的FOP双面邦定的对位方法用于确定FPC的第一端邦定于菲林的第一侧面上的位置，包括步骤：通过X射线照射菲林，X射线依次穿透菲林和FPC的第二端；将透过菲林和FPC的第二端的X射线转化成第一图像；通过CCD组件采集第一图像，以获得第一图像数据；弯折FPC；通过X射线照射FPC的第一端，X射线依次穿透FPC的第一端、菲林和FPC的第二端；将透过FPC的第一端、菲林和FPC的第二端的X射线转化成第二图像；通过CCD组件采集第二图像，以获得第二图像数据；上述的FOP双面邦定的对位方法解决了FOP双面邦定的精度较低的问题。 | ||
| 搜索关键词： | fop 双面 方法 对位 及其 机构 | ||
【主权项】：
1.一种FOP双面邦定的对位方法，用于确定FPC的第一端邦定于菲林的第一侧面上的位置，其特征在于，包括步骤：通过X射线照射所述菲林，所述X射线依次穿透所述菲林和所述FPC的第二端；将透过所述菲林和所述FPC的第二端的所述X射线转化成第一图像；通过CCD组件采集所述第一图像，以获得第一图像数据；弯折所述FPC；通过所述X射线照射所述FPC的第一端，所述X射线依次穿透所述FPC的第一端、所述菲林和所述FPC的第二端；将透过所述FPC的第一端、所述菲林和所述FPC的第二端的所述X射线转化成第二图像；通过所述CCD组件采集所述第二图像，以获得第二图像数据；以及比对所述第一图像数据和所述第二图像数据，以确定所述FPC的第一端邦定于所述菲林的第一侧面上的位置。
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