[发明专利]一种SRAM型FPGA单粒子软错误与电路失效率关系快速测定方法有效
| 申请号： | 201610183678.7 | 申请日： | 2016-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN105869679B | 公开（公告）日： | 2018-09-18 |
| 发明（设计）人： | 于登云;贾晓宇;蔡震波;张庆祥;李衍存;王颖;秦珊珊;郑玉展 | 申请（专利权）人： | 北京空间飞行器总体设计部 |
| 主分类号： | G11C29/10 | 分类号： | G11C29/10;G11C29/56 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 范晓毅 |
| 地址： | 100094 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种SRAM型FPGA单粒子软错误与电路失效率关系快速测定方法，步骤如下：(1)选定初始向配置区注入的翻转位数N；(2)随机选择FPGA配置区N位进行故障注入，运行FPGA，记录FPGA输出是否出现错误；(3)重复第(2)k次，直到失效率在30％到70％；(4)根据实际条件，按照最终选定的N，进行尽量多次的故障注入，获得较好的统计性，推荐注入以N位随机翻转的故障注入试验次数不的小于30次；(5)最终得到注入N位随机故障后电路失效率为λN，然后用1‑(1‑λN)M/N估计电路的失效率上限，得到电路设计的SEU数目M‑电路失效率λM评估结果。采用本发明的方法通过次数很少的故障注入，即可对FPGA电路设计抗SEU性能作出有效评价，大大减少了实验的次数和评估的周期。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 sram fpga 粒子 错误 电路 失效 关系 快速 测定 方法 | ||
【主权项】：
1.一种SRAM型FPGA单粒子软错误与电路失效率关系快速测定方法，其特征在于包括如下步骤：(1)选定初始向FPGA配置区注入的翻转位数为N位，N为正整数；(2)随机选择FPGA配置区中的N位进行故障注入，运行FPGA，记录FPGA输出是否出现错误；(3)重复步骤(2)k次，计算FPGA的电路失效率λN；如果电路失效率λN小于30％，则增大翻转位数N，返回步骤(2)；如果电路失效率λN超过70％，则减小翻转位数N，返回步骤(2)；如果失效率λN在30％到70％，则固定N值，进入步骤(4)；k为正整数；(4)按照固定的N值，进行n次的故障注入，记录FPGA输出是否出现错误；n为正整数；(5)计算注入N位随机故障后电路失效率λN，然后计算1‑(1‑λN)M/N，作为翻转位数M时电路失效率λM的上限，其中M
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