[发明专利]利用短波辐射估算长波净辐射和下行辐射的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201610167084.7 申请日: 2016-03-23
公开(公告)号: CN105572677B 公开(公告)日: 2017-12-08
发明(设计)人: 王天星;施建成;阎广建;陈玲;焦中虎 申请(专利权)人: 中国科学院遥感与数字地球研究所
主分类号: G01S17/02 分类号: G01S17/02;G01S7/48
代理公司: 北京恒都律师事务所11395 代理人: 李春晅
地址: 100094*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本申请提供了一种利用短波辐射估算长波净辐射和下行辐射的方法和装置,利用短波辐射估算长波净辐射的方法包括获取短波净辐射样本和长波净辐射样本;建立短波净辐射样本和长波净辐射样本之间的数学关系;获取待处理的遥感图像;计算遥感图像对应的短波净辐射;将短波净辐射代入数学关系,得到遥感图像对应长波净辐射,进一步地,可根据长波净辐射获得长波下行辐射。通过本发明,无论在有云条件下还是在晴空条件下,均能够直接由短波辐射估算长波辐射,解决了现有技术中由于无法从有云条件下的遥感图像上获取长波辐射,而导致的长波辐射空间不连续的技术问题。
搜索关键词: 利用 短波 辐射 估算 长波 下行 方法 装置
【主权项】:
一种利用短波辐射估算长波净辐射的方法,其特征在于,包括:获取短波净辐射样本和长波净辐射样本;建立所述短波净辐射样本和所述长波净辐射样本之间的数学关系;获取待处理的遥感图像;计算所述遥感图像对应的短波净辐射;将所述短波净辐射代入所述数学关系,得到所述遥感图像对应长波净辐射;所述建立所述短波净辐射样本和所述长波净辐射样本之间的数学关系包括:获取地表反照率样本、大气底层平均温度样本和平均湿度样本;以所述地表反照率样本、所述大气底层平均温度样本、所述平均湿度样本和所述短波净辐射样本为输入数据,以所述长波净辐射样本为输出数据,通过神经网络模型建立所述短波净辐射样本和所述长波净辐射样本之间的数学关系。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院遥感与数字地球研究所,未经中国科学院遥感与数字地球研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610167084.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top