[发明专利]动态随机存取存储器以及搭载其系统的测试方法有效

专利信息
申请号: 201610051207.0 申请日: 2016-01-26
公开(公告)号: CN106997784B 公开(公告)日: 2020-01-07
发明(设计)人: 张昆辉 申请(专利权)人: 华邦电子股份有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 11127 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 郭晓宇
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供一种测试方法,用于测试搭载动态随机存取存储器的系统,上述方法包括在动态随机存取存储器操作于测试模式时,每隔一既定间隔时间,将动态随机存取存储器的不同的多个输出接脚其中之一的输出信号,或动态随机存取存储器的不同的多个输入接脚其中之一的输入信号,加入一变异量;将上述输出接脚的输出信号或上述输入接脚的输入信号,被加入上述变异量的时间以及上述变异量,记录至一测试数据;以及当上述系统失效时,依据上述测试数据,找出上述系统失效时所对应的输入接脚或输出接脚,以及变异量。
搜索关键词: 动态 随机存取存储器 以及 搭载 系统 测试 方法
【主权项】:
1.一种动态随机存取存储器,其特征在于,包括:/n多个输入接脚以及多个输出接脚;/n一主要电路,耦接该多个输入接脚和该多个输出接脚;以及/n一控制电路,在该动态随机存取存储器操作于一测试模式时,每隔一既定间隔时间,将该主要电路输出给不同的该多个输出接脚其中之一的输出信号,或该主要电路从不同的该多个输入接脚其中之一接收的输入信号,加入一变异量;/n其中,该控制电路将该多个输出接脚的输出信号或该多个输入接脚的输入信号被加入该变异量的时间以及该变异量记录至一测试数据;/n其中,该测试数据被配置以在该动态随机存取存储器失效时,基于该动态随机存取存储器发生失效的一时间点,指示造成该动态随机存取存储器失效的输入接脚或输出接脚,以及该变异量。/n
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