[发明专利]掺杂Ce的PZT系压电膜形成用组合物有效

专利信息
申请号: 201580015351.2 申请日: 2015-03-20
公开(公告)号: CN106133932B 公开(公告)日: 2018-11-27
发明(设计)人: 土井利浩;樱井英章;曽山信幸 申请(专利权)人: 三菱综合材料株式会社
主分类号: H01L41/187 分类号: H01L41/187;C01G25/00;H01L41/318
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人: 朴圣洁;王珍仙
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的掺杂Ce的PZT系压电膜形成用组合物含有PZT系前体、二醇及聚乙烯吡咯烷酮等,所述PZT系前体含有构成复合金属氧化物的各金属原子。组合物中的金属原子比Pb:Ce:Zr:Ti满足(1.00~1.28):(0.005~0.05):(0.40~0.55):(0.60~0.45),且以Zr与Ti的金属原子比的合计比例成为1的比例含有PZT系前体。组合物100质量%中所占的PZT系前体的浓度以氧化物浓度计为17~35质量%,组合物100质量%中的二醇的比例为16~56质量%,聚乙烯吡咯烷酮等的比例相对于PZT系前体1摩尔,以单体换算为0.01~0.25摩尔。
搜索关键词: 掺杂 ce pzt 压电 形成 组合
【主权项】:
1.一种掺杂Ce的PZT系压电膜形成用组合物,其为用于形成由掺杂Ce的复合金属氧化物所构成的PZT系压电膜的组合物,所述掺杂Ce的PZT系压电膜形成用组合物含有PZT系前体、二醇和碳原子数6以上且12以下的直链一元醇,并含有聚乙烯吡咯烷酮或聚乙二醇,所述PZT系前体含有构成所述复合金属氧化物的各金属原子,所述组合物中的金属原子比Pb:Ce:Zr:Ti满足1.00~1.28:0.005~0.05:0.40~0.55:0.60~0.45,且以所述Zr与所述Ti的金属原子比的合计比例成为1的比例含有所述PZT系前体,所述组合物100质量%中所占的所述PZT系前体的浓度以氧化物浓度计为17~35质量%,所述组合物100质量%中的所述二醇的比例为28~56质量%,所述聚乙烯吡咯烷酮或聚乙二醇的比例相对于所述PZT系前体1摩尔,以单体换算为0.01~0.25摩尔,所述组合物100质量%中的所述碳原子数6以上且12以下的直链一元醇的添加比例为0.6~10质量%。
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