[发明专利]一种双目视觉测量系统精度分析方法在审

专利信息
申请号: 201511017788.8 申请日: 2015-12-30
公开(公告)号: CN105758383A 公开(公告)日: 2016-07-13
发明(设计)人: 邸男 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01C11/00 分类号: G01C11/00
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 张伟
地址: 130033 吉*** 国省代码: 林;22
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摘要: 发明的双目视觉测量系统精度分析方法,针对双目视觉测量系统开展系统精度分析,通过建立了双目测量系统相机参数、摆放基线与系统精度之间的解析关系,利用该解析关系,我们可以根据系统的精度要求,确定相机参数、摆放角度和基线等参数,从而实现了可量化的系统设计。本发明的双目视觉测量系统精度分析方法,可用作实际工程计算的复核与参考。
搜索关键词: 一种 双目 视觉 测量 系统 精度 分析 方法
【主权项】:
一种双目视觉测量系统精度分析方法,其特征在于,其适用的分析装置包括:两个相机;视觉测量系统的坐标原点建立在其中一台相机的投影中心;设两个相机的有效焦距分别为f1、f2,两个相机的投影中心分别为O1、O2,相机视场角为投影中心之间的距离即为基线距B;基线距B与相机两个光轴的夹角分别是α1、α2;空间一点P(x,y,z)在xz平面的投影点为P',O1P、O2P与O1P′、O2P′的夹角分别记为O1P′、O2P与两个相机光轴的夹角分别ω1、ω2;该分析方法包括以下步骤:根据几何关系,可以得到:z即为目标点P到测量系统的距离z,由几何关系还可以得到有关的表达式:由以上两式,任意空间一点P的三维坐标可以表示为进一步由几何关系,可得到关于的表达式:根据针孔成像原理,可知:求偏导数计算系统精度如下:为简化分析,令f1=f2=f,α1=α2=α这里给出在相机基线的垂直平分线上点的测量精度,因此ω1=ω2=ω;距离测量精度如下:其中Δ为空间点P在成平面上的成像偏差,这里Δ=p,认为偏差不会大于1个像元。
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