[发明专利]用于线阵探测器可靠性筛选的像元辐射响应标定方法

摘要

本发明公开了用于线阵探测器可靠性筛选的像元辐射响应标定方法，首先在多种辐射条件下由检测装置多次测量获得响应量，并记录设置辐射温度和环境温度，解算方程组获得像元辐射线性影响因子、环境温度线性影响因子、常数因子，继而得到像元辐射响应温度特性公式，最后解算公式的符合度系数，为探测器的可靠性筛选提供判据。这种检测装置包括辐射源、运算放大器、AD转换器、控制器、串口驱动器、计算机。本发明简易有效，不受环境约束，解决了线阵探测器在可靠性筛选过程中的辐射响应漂移问题，并提出通过分析标定公式的符合度为探测器可靠性筛选提供判据的方法。

主权项

1.一种用于线阵探测器可靠性筛选的像元辐射响应标定方法,其特征在于包括以下步骤：(1)、将线阵探测器接入检测装置，不通电的状态下保持2小时以上；(2)、对处于步骤(1)状态的装置进行加电，同时设置辐射源温度值为25℃，保持该状态5min；(3)、由检测装置获得当前辐射源温度下线阵探测器像元的响应量，单位为V，同时记录当前环境温度；(4)、设置辐射源温度值增加1℃，并保持2min；(5)、再重复步骤(3)～(4)的操作10次；(6)、对装置进行断电；(7)、等待0.5小时；(8)、再重复步骤(2)～(7)的操作p次，p为重复操作的次数，共获得11p+11组的线阵探测器像元的响应量，其值依次记为D1，……，D11p+11，及其对应设置辐射源温度，其值依次记为Ts1，……，Ts11p+11，和对应环境温度，其值依次记为Te1，……，Te11p+11；(9)、解以m₁,m₂,m₃为未知量的方程组其中α₁＝(Ts₁ Ts₂ Λ Ts_11p+11)，α₂＝(Te₁ Te₂ Λ Te_11p+11)，α₃为1行11p+11列、所有元素均为1的矩阵，β＝(D₁ D₂ Λ D_11p+11)，矩阵β^T依次为矩阵α₁、α₂、α₃、β的转置；获得像元辐射线性影响因子m1、环境温度线性影响因子m2、常数因子m3，得到像元辐射响应温度特性公式D＝m1Ts+m2Te+m3，其中D为像元辐射响应量，Ts为辐射源设置温度，Te为测试环境温度；(10)、按如下公式计算符合度系数R：若R2大于99％时，认为步骤(9)获得的标定公式可信，否则认为该像元进行可靠性筛选时性能指标下降。